全文获取类型
收费全文 | 6205篇 |
免费 | 914篇 |
国内免费 | 521篇 |
专业分类
化学 | 624篇 |
晶体学 | 17篇 |
力学 | 71篇 |
综合类 | 41篇 |
数学 | 64篇 |
物理学 | 958篇 |
无线电 | 5865篇 |
出版年
2024年 | 27篇 |
2023年 | 109篇 |
2022年 | 128篇 |
2021年 | 152篇 |
2020年 | 114篇 |
2019年 | 135篇 |
2018年 | 84篇 |
2017年 | 141篇 |
2016年 | 167篇 |
2015年 | 187篇 |
2014年 | 395篇 |
2013年 | 360篇 |
2012年 | 507篇 |
2011年 | 489篇 |
2010年 | 481篇 |
2009年 | 523篇 |
2008年 | 578篇 |
2007年 | 410篇 |
2006年 | 391篇 |
2005年 | 413篇 |
2004年 | 408篇 |
2003年 | 300篇 |
2002年 | 215篇 |
2001年 | 187篇 |
2000年 | 115篇 |
1999年 | 101篇 |
1998年 | 87篇 |
1997年 | 65篇 |
1996年 | 79篇 |
1995年 | 63篇 |
1994年 | 42篇 |
1993年 | 36篇 |
1992年 | 37篇 |
1991年 | 32篇 |
1990年 | 30篇 |
1989年 | 32篇 |
1988年 | 5篇 |
1987年 | 5篇 |
1986年 | 3篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 1篇 |
1982年 | 5篇 |
排序方式: 共有7640条查询结果,搜索用时 0 毫秒
61.
介绍了一种数字化阻抗测试方法,它采用锁相同步采样、数字化矢量电压电流比法及校准技术测试元器件或线路阻抗。同时介绍了相应实验电路原理,并结合线路接口,进行了通信电缆的线路阻抗测试实验。 相似文献
62.
通过理论计算和实际测试,给出了PVInSb红外探测器的低频阻抗-频率特性曲线,结合检测阻抗/动态电阻的方法和阻抗-频率特性曲线的变化规律,分析讨论了PVInSb红外探测器的阻抗与动态电阻的异同,从而说明在涉及PVInSb红外探测器的阻抗/动态电阻时,即使在低频范围也要具体考虑频率因素的影响。 相似文献
63.
随着无线网络运营商逐渐提供新兴数据应用支持(该应用需要比语音服务更高的带宽),网络已经开始从速率较低的2/2.5G数据服务向3G数据服务过渡。无线运营商一方面在加强网络的创收潜力,另一方面在尽力缩减成本,更充分地利用传输带宽和效率。随着无线网络融合的加快,无线运营商必须考虑减少T1/E1、SoNET/SDH和以太网链路的部署数量,以降低成本。 相似文献
64.
LM1894动态降噪集成电路(DNR)是应用得最多,适用范围最宽的双声道降噪电路,它具有外围元件少,电路简单,使用方便等优点,已普遍采用于音响电路中,本人在电路设计及维修中曾多次使用此电路,本文主要从应用方面介绍此电路。 相似文献
65.
本文研究了v型天线上电流分布与阻抗加载的关系,导出了支持天线上行波电流的阻抗加载公式。讨论了天线张角、振子半径以及振子长度与加载量的关系和规律,说明了加载V型天线的宽带特性。文中还计算了在高斯脉冲激励下,不同加载量的天线上瞬态电流的分布,由此可以表明所导加载公式的正确性与重要性。 相似文献
66.
67.
Pt/钇稳定氧化锆固体电解质在高温下的电化学性质 总被引:1,自引:0,他引:1
用交流阻抗技术研究了二电极、三电极Pt/钇稳定氧化锆(简称YSZ)高温固体电化学体系.开路电位下,Pt/YSZ体系只有一个阻抗半圆,对应于电极体系的电化学活化控制过程,极化电阻随温度变化的表观活化能为171.5kJ/mol.Pt/YSZ界面的双电层电容约为300μF/cm2.阳极极化下,交流阻抗极化电阻显著减小;阴极极化下,极化电阻反而增大,并出现浓差控制现象. 相似文献
68.
69.
BaCe1—xRExO3—0.5x的溶胶—凝胶法合成及离子导电性 总被引:3,自引:0,他引:3
用溶胶-凝胶法合成了系列钙钛矿结构的BaCe1-xRExO3-0.5x(RE=La,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er和Y)复合氧化物,通过XRD和热分析对样品结构及生成过程进行了研究.测定了不同温度下样品的交流阻抗谱,讨论了稀土离子掺杂对BaCeO3电性质的影响.溶胶-凝胶法比固相反应法合成温度降低了600~800℃,稀土掺杂使BaCeO3离子导电率提高了10~40倍. 相似文献
70.
根据CR传输线模型和QR电路之间的关系,建立了拟合其初值的计算方法,借助Z-View软件,可求得各元件精确值.根据电容(Ci)和电阻(Ri)随特征频率(f*)的分布,推导了元件相对增量与恒相位角元件(Q)指数参数n的关系. 结果表明, 当n小于0.5时,Ci比Ri增加得更快,从新的角度说明了n的物理意义及其和界面脱层之间的关系.作为应用实例,拟合了不同特征的电化学阻抗谱,分析了有机涂层/金属腐蚀体系阻抗变化的具体过程,区分了点蚀和脱层因素对阻抗谱的影响,从高阻抗体系同时得到了与不同空隙率有关的涂层电容和电阻值,并根据涂层体系的不均匀特征探讨了模型结构的物理意义. 相似文献