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232.
面阵列封装器件在电子产品中的使用率逐年上升,如何实现其高速贴装是影响生产线效率的重要因素。从不同的角度论述了面阵列封装器件实现高速贴装的手段与技术。 相似文献
233.
本文介绍IGBT、EXB841和LEM模块在大功率PWM直流伺服驱动系统中的应用和系统抗干扰设计。使用效果表明,基于IGBT的设计,可提高大功率直流伺服系统的可靠性和性能、减小体积、降低成本。 相似文献
234.
235.
提出了一种基于部分耗尽绝缘体上硅的体源连接环形栅nMOS器件,并讨论了相应的工艺技术和工作机理。采用体源连接环形栅器件结构,有效地抑制了浮体环形栅器件中存在的浮体效应和寄生双极晶体管效应,使器件性能得到很大的提高。消除了浮体环形栅器件的反常亚阈值斜率和Kink效应,DIBL从120.7mV/V降低到3.45mV/V,关态击穿电压从4.8V提高到12.1V。最后指出,体源连接环形栅器件非常适合于抗辐照加固等应用领域。 相似文献
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由于高的电子迁移率和二维电子气浓度,InP基赝配高电子迁移率晶体管(PHEMTs)器件成为制作太赫兹器件最有前途的三端器件之一。为提高器件的工作频率,采用InAs复合沟道,使得二维电子气的电子迁移率达到13000 cm2/(Vs)。成功研制出70 nm栅长的InP基赝配高电子迁移率晶体管,器件采用双指,总栅宽为30 m,源漏间距为2 m。为降低器件的寄生电容,设计T型栅的栅根高度达到210 nm。器件的最大漏端电流为1440 mA/mm (VGS=0.4 V),最大峰值跨导为2230 mS/mm。截止频率fT和最大振荡频率fmax分别为280 GHz和640 GHz。这些性能显示该器件适于毫米波和太赫兹波应用。 相似文献
237.
FBG中心波长的可调谐光源法检测中光强起伏研究 总被引:2,自引:7,他引:2
对光纤Bragg光栅(FBG)波长扫描技术中所存在的光功率起伏特性及其影响进行了实验研究。以可调谐光源扫描法的波长检测技术为例,测量了光源光功率的时间漂移特性、随波长变化的起伏特性以及耦合器的波长响应特性。结果表明,以上各种起伏的累加导致在探测器端存在0.60dB的光功率波动。通过同时测量耦合器的另一输出端对测量结果进行了补偿,补偿后光功率的波动减少到0.08dB。采用高分辨率的FBG中心波长检测技术测量发现,这种光功率波动起伏最大能够引起FBG中心波长0.15pm的测量偏差。 相似文献
238.
239.
240.
基于光折变材料的二波耦合特性提出了一种新型的空气扰动探测方法。空气中的微扰导致入射到光折变材料中两束光的光程差发生改变,干涉条纹随之发生变化。由于光折变体相位栅建立时间比较长,体相位栅不能及时跟随干涉条纹发生变化,导致干涉条纹与体相位栅间的相移将随空气扰动信息的变化而变化。相移角的改变将导致瞬态能量转移,输出两束光的能量在瞬态能量转移作用下将实现对空气扰动信息的光调制,并且这种调制过程是一种差分调制方式。在接收端采用电差分检测方法便可解调出空气扰动信息。这种利用光折变体相位栅的差分探测方法在未来的探测领域将有广泛的应用前景。 相似文献