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用改进的图形结构测量金属/薄层半导体的接触电阻率 总被引:3,自引:2,他引:1
提出一种诊断金属/薄层半导体欧姆接触质量的改进测试图形──单点圆环结构模型.本结构不仅样品制备简单,只需做上一个小圆点和一个同心的圆环接触,无需台面绝缘,而且还有多样的灵活性.整个测试都是定域在一个小圆环内,无需考虑边界效应以及邻近其他图形的影响.发展和讨论了此模型的两种演变结构形式,使之更为简捷实用.所得结果与文献的报道一致. 相似文献
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5.4 防锈技术涂布型金属磁带所使用的金属磁粉的组成是以铁为主要成分的合金(Fe、Co、Ni),易于氧化。这是磁带性能不稳定因素,日本各公司相继开发了防止氧化技术。就是将金属磁粉粒子的表面进行氧化物保护膜(约5 相似文献
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矩孔金属光栅矢量模式理论的数值计算 总被引:1,自引:0,他引:1
根据矩孔金属光栅的矢量模式理论,计算了不同入射方向,波长及偏振态情况下衍射场的分布,研究了不同光栅结构对衍射效率,偏振态变化的影响;同时,根据实际需要,加工制作了一批不同深度的矩孔光栅样品,进行了实验测量,并将计算值与实验值进行了比较,两者基本相符。 相似文献
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Optical Recording Properties of Metal-Azo Dye as Recording Medium with Super-Resolution Near-Field Structure
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A novel metallized azo dye has been synthesized. The absorption spectra of the thin film and thermal characteristic are measured. Static optical recording properties with and without the Bi mask layer super-resolution near-field structure (Super-RENS) of the metal-azo dye are investigated. The results show that the metal-azo dye film has a broad absorbance band in the region of 450-650 nm and the maximum absorbance wavelength is located at 603 nm. It is also found that the new metallized azo dye occupies excellent thermal stability, initiatory decomposition temperature is at 270℃ and the mass loss is about 48% in a narrow temperature region (15℃). The complex refractive index N (N = n + iκ) is measured. High refractive index (n = 2.45) and low extinction coefficient (κ = 0.2) at the recording wavelength 65Ohm are attained. Static optical recording tests with and without Super-RENS are carried out using a 65Ohm semiconductor diode laser with recording power of 7mW and laser pulse duration of 200ns. The AFM images show that the diameter of recording mark on the dye film with the Bi mask layer is reduced about 42%, compared to that of recorded mark on the dye film without Super-RENS. It is indicated that Bi can well performed as a mask layer of the dye recording layer and the metallized azo dye can be a promising candidate for recording media with the super-resolution near-field structure. 相似文献
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非晶钛铝薄膜结构的RDF分析王永瑞,邹 骐,刘震云,卢党吾(上海交通大学材料科学系,上海200030)多年来,人们通过检测非晶、多晶薄膜的X射线衍射 ̄[1]或中子衍射呈径向对称分布的强度分布,导出其约化密度函数G(r)和径向分布函数(RDF),进而计... 相似文献
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