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James Caffrey Conor Power 《电子设计技术》2005,12(8):15-15
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。 相似文献
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105.
结合美军标准微电子器件试验方法和程序的发展变化以及我国集成电路生产和研制的现状与国情,论述了GJB548的修订原则和协调先进性与可行性的综合处理方法及体会。 相似文献
106.
概括介绍我国表面安装器件十年来的生产发展状况,提供至今生产线的引进分布、品种生产能力、原材料国产化、外形和引线框架标准、市场、国内表面安装技术设备研制动向,说明存在的问题和国外技术上的差距,从而就社会主义市场经济下,如何发展表面安装产业,提出一些建议以供参考。 相似文献
107.
噪声测量作为筛选光电耦合器件的一种方法 总被引:2,自引:2,他引:0
本文针对目前用于光电耦合器件筛选方法的不足,提出了用测量耦合器件噪声功率谱的方法来筛选掉噪声值大的器件,给出一批光电耦合器件的测量统计结果及在不同工作点时的噪声功率谱,并给出相应的筛选标准,实验结果表明,这种方法是有效、可行的。 相似文献
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纳米硅量子线的发现与研究 总被引:5,自引:0,他引:5
一维纳米材料是当今介观物理学研究的前沿领域.文章报道了一种利用脉冲激光成功地制备纯度高、直径分布均匀的纳米硅量子线(SiNWs)的方法,介绍了纳米量子线的形貌、显微结构、生长机理和物理性能研究的最新结果.纳米硅量子线的发现具有重要的科学意义和潜在的应用前景. 相似文献