单根多壁碳纳米管的电学测试

提出了一种制备多壁碳纳米管的简单方法。以乙醇为碳源,利用催化化学气相沉积工艺制备了碳纳米管。用较为简单的设备在较低的反应温度下,在基底上生长了取向多壁碳纳米管阵列。利用扫描电子显微镜内部的纳米操纵仪对单根碳纳米管进行操纵,并测试了单根多壁碳纳米管的电学特性。     

一种扩展三角波线调频信号测距范围的新方法

针对线调频信号测距范围受到最大回波延时限制的问题,提出一种双差拍-傅立叶变换的处理方法。通过将回波信号与两种形式的发射信号分别混频,并对混频信号进行傅立叶变换获取目标距离信息。该方法在损失一定输出信噪比的代价下,扩展了信号的测距范围。理论分析和实验仿真均证明了该方法的有效性。     

Wi-Fi认证测试的热点与展望

介绍了无线局域网Wi-Fi认证的基本框架;然后重点阐述了Wi-Fi认证的热点项目,包括专用设备(ASD)认证、Wi-Fi与蜂窝网双模终端RF性能认证、Wi-Fi安全设置认证的原理与流程;最后分析了Wi-Fi认证的未来发展方向。     

一种新型楼宇对讲机分机的设计

鉴于目前市场上已出现种类繁多的楼宇对讲机,介绍了一种利用AT89S52单片机新设计的对讲机分机,并详细介绍了各部分电路的设计与工作原理,最后对语音部分的线路进行了仿真测试。测试结果表明,该线路失真率低于市场上同类产品。同时通过实物测试也说明该机型结构简单小巧,操作方便,具有良好的实时性和快速性,因此具有良好的实用性。     

集成电路低峰值功耗研究

随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求。内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注，本文对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析。并提出了折叠种子优化降低节点峰值功耗模型，通过调整种子结构和测。试向量的相关性的办法来避免过高的SoC测试峰值功耗，采取了屏蔽无效测试模式生成、提高应用测试向量之间的相关性以及并行加载向量等综合手段来控制测试应用，使得测试时测试向量的输入跳变显著降低．从而大幅度降低节点的峰值功耗。实验结果表明。该方案可以有效地避免BIST并行执行可能带来的过高峰值功耗。     

高速铁路隧道无线传播损耗模型校正

文章通过分析隧道无线传播环境,对ITU-R建议的隧道无线传播损耗模型进行校正,得到了一套高速铁路隧道的无线传播损耗模型,同时对不同弯曲半径的隧道进行无线信号损耗测试,得出了不同弯曲半径隧道对无线信号的影响规律。     

数字集群TETRA基站的现场测试(下)

3无线电管理检查测试TETRA基站的方法3.1需要测试的参数中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11228-2000《数字集群移动通信体制》,以及《ETSI EN300394-1V2.1.2(2000-12) Terrestrial Trunked Radio(TETRA);Conformance testing specification;Part1:Radio》标准中,列出了很多围绕系统功能、性能等方面的测试参数。     

一种有效的八位MCU桶形移位器 BIST 电路

针对8位微控制器（MCU）数据通道中桶形移位器的可测试性问题，提出了一种新颖的确定性内置自测试（BIST）电路设计方案，并对其进行了验证。该方案采用5个D触发器，在16个测试时钟周期内产生16个测试矢量，可完成对8位桶形移位器100％故障覆盖率测试。本论文的电路设计方案也可应用于一般2^N位（N≥4）桶形移位器的可测试设计。     

构建高精度脉冲器件自动测试系统

前言 雷达的微波射频系统主要包括混频器、滤波器、放大器、天线等部分.其中放大器、混频器、T/R组件为脉冲器件测试的主要对象.这些关键部件会对雷达的脉冲调制信号造成影响,典型的信号恶化包含:信号过冲、定降、振铃及脉冲的寄生调制(UMOP)等.     

ATMI：为高效半导体制程提供全面的材料解决方案

近年来，随着半导体工艺特征尺寸的不断缩小以及新工艺的导入，测试的重要性和复杂性越来越突显．其所需成本在最终产品中的比例也越来越高．自动测试设备市场的竞争与日俱增．在众多有力竞争者中，泰瑞达是一家以SoC测试为主要市场的自动测试设备供应商。