单晶光纤损耗谱测量装置

本文描述了一套用以测量单晶光纤损耗谱的装置。本装置由卤钨灯,单色仪,积分球,AgORbCs光电倍增管以及数据采集,处理和控制系统组成。可测量300～1150nm的光谱范围。利用本装置可获得单晶光纤的吸收光谱,透过率谱,散射光谱以及散射位置谱。     

椭偏法测厚及折射率的计算机解算

WJZ型多功能激光椭圆偏振仪是在JJY型分光计上附加激光椭偏装置而组成。兼有分光计和椭偏仪的功能,可用于测量不同基底上介质薄膜的厚度和折射率;除作为高校中级物理实验外,亦可用于材料表面光学参数的分析研究。但是,与原椭偏装置相配用的椭偏仪数据表,只能适用于K_q基底上生长的氧化锆薄膜标准试样,这就实际上限制了椭偏仪的使用范围;另一方面,即使对上述标准试样测量,所获数据往往与数据表提供的数值偏离甚大,直接影响实验效果。经过多次实际试验,本文分析了三相椭偏方程解的特性,讨论了不同条件下椭偏法测厚及折射率的计算机解算。     

关于计算机操作不当的故障分析和处理

分析了计算机操作不当的原因，提出了解决办法。     

角定向灵敏度及交叉耦合的一种无塔标定方法

提出了一种测量雷达角定向灵敏度及交叉耦合的一种无塔标定方法，即利用不则控雷达上配装的微光电视顶偏跟踪气球，标定测量雷达的角定向灵敏度及交叉耦合，并进行了实验研究。     

计算机集成制造系统

本文描述计算机集成制造系统的发展以及它的基本概念，基本组成和开发方式等。