三乙四胺钴配合物氧合结构和老化机理

以固相法合成的三乙四胺钴配合物为研究体系,采用正离子电喷雾串联质谱、紫外-可见吸收光谱、拉曼共振光谱和红外光谱等表征手段,研究了配合物与氧分子的相互作用过程及配合物在吸氧过程中的结构变化。结果表明,三乙四胺钴配合物的吸氧过程是一个动态的变化过程,氧合产物由双氧双桥联的氧合配合物CoⅢL-(O2)2-CoⅢL形式向双羟基桥联的老化配合物CoⅢL-(OH)2-CoⅢL形式转变;18O2同位素标记实验验证了Co-O-O-Co的存在。酸解实验说明OH桥联配合物的形成是造成可逆性差的根本原因。这些结果为探知多胺钴配合物的氧合结构和老化机理提供了新的研究方法和实验依据。     

复杂条件下高分子材料老化规律、寿命预测与防治研究新进展

复杂条件下有机高分子材料的老化、寿命预测和防治研究对满足相关行业发展的迫切需求,实现节能减排、环境保护及可持续发展等战略目标具有重大意义。本文重点综述了近年来针对聚烯烃、工程塑料、橡胶、涂料等大宗高分子材料在我国复杂大气环境中的自然老化及人工模拟加速老化研究的新进展,对材料老化失效基本规律和分子机理、老化数据库的建立及老化分级图谱的绘制进行了介绍,探讨了户外自然环境和人工模拟环境下材料老化失效规律的对应关系、服役寿命理论的预测模型及失效防治延寿新方法,并对其中存在的问题及下一步发展方向进行了展望。     

一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法

在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG方法获取较小的备选测试矢量集合.基于门电路的故障相关输入状态,设计了一种度量指标,可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量.该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系,可有效降低误选测试矢量的风险.     

应用于地面数字电视单频网的时钟锁频技术

晶振自身的频率老化会使得晶振的输出频率与标称频率具有较大的偏差,晶振频率的稳定度和准确度会影响地面数字电视单频网发射机的性能,导致单频网环境下的动态多径情况,从而影响接收机的接收性能。通过和外部卫星频标的比对,可以在开始阶段对发射器的晶振输出频率进行良好的校准,从而保证单频网环境下各个发射器的一致性,实现各个发射机信号的绝对同步。该方法实现复杂度低,完全可以利用发射机现有的资源实现。     

氧化锌压敏电阻老化过程中非线性系数变化的研究

根据氧化锌压敏电阻(MOV)的非线性特征,结合双肖特基(Schottky)势垒理论和氧化锌陶瓷在小电流区的导电机制,提出了氧化锌压敏电阻老化劣化过程中必然伴随着非线性系数α的变化的结论.针对一种型号的MOV,通过大量实验数据分析得出:在不同老化劣化实验条件下,MOV的非线性系数α均随劣化程度的增加而呈下降趋势;在标称电...     

GaN发光二极管的老化数学模型及寿命测试方法

GaN发光二极管因其寿命、效率和环保等优点得到了广泛的应用。寿命问题一直是限制GaN发光二极管应用的核心问题。为了研究GaN发光二极管的老化过程,计算了GaN发光二极管物理参数,分析了GaN发光二极管的深能级缺陷和非辐射复合中心增加的老化原理,并且针对该原理的老化过程进行物理原理的分析推导,进而建立了老化数学模型。同时,利用一组实际的GaN发光二极管大应力老化实验的数据进行计算,提出了利用该数学模型的GaN发光二极管寿命的测试方法和数学计算方法,并计算出实验GaN发光二极管的寿命数值。提出的GaN发光二极管老化数学模型对比传统的阿伦纽斯模型具有针对性强、物理意义明显和寿命预测准等优点,具有很好的实际应用价值。     

架空光缆外护套材料力学性能的自然老化试验

采用对架空光缆外护套材料试件进行长期自然暴晒的试验方法,对国内部分地区运行中的架空光缆存在的外护套力学性能劣化问题进行了分析,总结了不同种类外护套材料主要力学性能随时间变化的趋势:低烟无卤阻燃外护套材料的断裂伸长率下降最为明显,暴晒8年后该性能保留率仅为44.1%;线性低密度聚乙烯在三种聚乙烯外护套材料中更具耐环境应力开裂的优势。     

物联网技术在LED老化库的应用

对物联网技术在LED装配老化库的应用进行研究。首先,对老化库总体结构进行介绍,简述了自动老化库的工艺流程以及装配上线初始化与混流生产的程序流程,然后根据系统设计要求编写专门的管理软件——LED自动老化库信息系统,最后,对老化仓的布置进行设计规划使得系统具有直观可行性。系统能够实现预想的各种要求,大大提高老化库的智能化程度。     

矿用XLPE电缆老化状态对温升的影响

通过分析电缆绝缘参量的温度效应和老化特征,明确运行中矿用高压电缆的介质损耗不可忽略,并据此建立了老化对在役矿用XLPE电缆温升影响的评估方法.根据单芯电缆温升计算式,给出了兼顾老化因素的三芯电缆温升解析式,进行稳态温升预测.基于导体损耗的温度正相关性,利用ANSYS有限元仿真软件,建立热电耦合迭代模型来确认理论模型,并对电缆温升进行仿真计算.算例对比分析了老化电缆水树附近和老化电缆整体的温升,为实际运行中电缆的状态监测提供参考依据.     

BurnIn(老化)插座接触电阻的在板测试

在BurnIn的生产过程中,会出现测试不稳定,低良品率等问题。对于这样的问题,工程师会通过调试程序来确定,是芯片本身出现的偏差,还是测试程序不够稳定,或者是BurnIn板子由于长时间使用,导致插座接触不良。对于插座能否正常接触,可以通过直接测量芯片引脚上的信号来判断,但对于好多芯片在放入插座之后,根本没有办法测试引脚上的信号。文章引入在BurnIn板子上测量插座接触电阻的方法,介绍了在BurnIn板子上测量接触电阻的必要性和实现方法。通过在BurnIn板子上,增加插座接触电阻的测试功能,对BurnIn程序调试,BurnIn生产过程中出现问题的分析,以及生产的BurnIn板子维护都有很大的帮助。