基于固定模糊度技术的精密单点定位性能分析

模糊度固定是影响精密单点定位精度和快速收敛的主要问题之一,而相位偏差的有效分离是模糊度固定的关键因素,采用包含相位偏差的钟差和与之耦合的轨道来完成模糊度的固定,基于全球分布的5个IGS连续跟踪站5 d的观测数据,采用采样间隔为30 s的高精度精密钟差产品,研究精密单点定位(PPP)的整周模糊度在固定解模式和浮点解模式下...     

石英玻璃薄板激光精密切割技术

为了实现石英玻璃薄板的激光精密切割,对石英玻璃薄板激光切割原理进行了探讨,提出了依照材料光学透过率特性来选择激光切割用激光源的方法.通过对材料光学透过率的特性分析可以得知,用来切割石英玻璃的激光源波长应在5μm～20μm范围内.对石英玻璃薄板的激光精密切割进行了实验验证,实验结果表明,激光精密切割技术能够较好地运用于石英玻璃薄板的精密切割加工中,其加工精度优于20μm、中心对称度小于μm.这一结果和激光源选择方法对石英材料激光精密加工技术研究及其设备研制是有帮助的.     

InSb晶片的机械加工损伤层研究

结合X射线衍射技术以及逐层化学 腐蚀剥离损伤层的方法,定量分析了InSb晶体 由于切割、研磨、抛光等工艺所引入的损伤层的深度,并探讨了 损伤层结构及引入因素。研究结果表明,切割加工是引入InSb晶 片表面损伤层的主要工序,其表面损伤层的深度达 到16 μm左右;双面研磨的InSb晶片表面的损伤层深度约 为12 μm;经机械化学抛光加工后的InSb晶片表面的损伤层深 度明显减小,约为2 μm。     

一种双通道零漂移运算放大器的设计

设计了一款双通道、零漂移、轨到轨输入输出的运算放大器,可用于温度、压力传感器等精密信号采集领域.整体结构主要包括:带隙基准、振荡器、分频器、开关控制、主运放和调零运放模块.其中振荡器、分频器、基准偏置为共用模块,开关控制、主运放、调零运放在双通道中相互独立.基于Cadence仿真软件,采用国内0.5 μmCMOS工艺完...     

维易科(Veeco):纳米技术的创新者——访美国维易科(Veeco)精密仪器有限公司副总裁兼中国区总经理荆亦仁

<正>美国维易科(Veeco)精密仪器有限公司向广大用户提供自行设计和制造的世界先进的精密测量仪器和工艺设备,并提供广泛的客户服务和技术支持。公司的工艺设备主要用于纳米范围的设备制造,拓宽了信息时代的技术和产品的广阔领域;测量仪器用来进行纳米范围的精密测量,为先进的科学研究和纳米技术提供重要的科技支持。公司致力     

地基增强系统验证飞行性能分析

地基增强系统(GBAS)在通过差分定位提高卫星导航精度的基础上,增加了一系列完好性监视算法,提高系统完好性、可用性和连续性的指标,使机场覆盖空域范围内的配置相应机载设备的飞机获得达到I类精密进近(CAT-I)甚至更高标准的精密进近和着陆引导服务.GBAS验证飞行的目的是确认GBAS地面设备的信号稳定性和可靠性,同时验证...     

国产高档彩电功能纵横谈

<正> 去年高端彩电还只是国外品牌的一统天下,而今年国产的高档彩电竟以1/2～2/3的价格向这些品牌叫板。TCL的‘HiD’、创维‘逐行王’、长虹‘精显’、厦华‘变频’、康佳‘柔性’、西湖数源的‘神通’、海信‘胶片’等等一大批新型高档彩电纷纷亮相,功能已比领衔上市的索尼ES系列还强。虽然这批新彩电每平方英才画面的单价还在8～10元之间,离能大规模进入中国家庭的5元/平方英寸还有一段差距,但已为经济条件较好或对家庭影院有强烈兴趣的用户关注。     

大气折射误差对精密光电测距精度的影响研究

从精密光电测距的基本原理出发,探讨了在精密光电测距中影响测量精度的主要因素,根据光电测距信号在大气中的传输特性,着重分析光电测距中改正模型的气象代表性误差及其规律性,并探讨局部光电测距大气折射影响规律,为测量结果的修正和使用提供参考。     

精密测角法中测量误差对内方位元素标定的影响

通过误差传递推导误差公式,确定了各参数对内方位元素精度的影响关系.为了明确对相机内方位元素精度的影响因素,对像点位置坐标精度和物方视场角精度与相机内方位元素精度的关系进行研究.在现有的精密测角法的基础上,推导关系公式来确定各参数对内方位元素精度的影响关系.对采样点各个数据的精度及其组数对结果精度的影响进行讨论.结果表明:在像点位置坐标标准差1μm内,物方视场角极限误差0.7"内,位置坐标精度对主距f精度影响较大,而物方视场角精度对主点x0精度影响较大;测量数组数(采样点数)量对结果误差有很大的影响.实验证明:该影响与实际结果相符.     

精密定位光栅尺的研究进展

本文主要简述光栅尺的最新发展历程。介绍了光栅尺的结构和测量原理以及光栅尺的分类和应用,讨论了光栅尺发展所面临的测量精度、信号处理及栅距细分、光栅的参考标记和绝对坐标以及光栅的载体和热性能等关键问题,并指出了光栅尺未来良好的发展趋势。