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激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱测定植物样品中的元素 总被引:2,自引:0,他引:2
采用193 nm准分子激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)对标准植物粉末样品(GBW07602-GBW07603灌木枝叶、GBW07604杨树叶、GBW07605茶叶、GBW08514烟草)中13种元素(Li,B,Na,Mg,Al,K,Ca,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,Ba)进行定量测试.向植物粉末样... 相似文献
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粉末溅射平面薄膜型SnO2/CeO2酒敏传感器 总被引:16,自引:0,他引:16
介绍粉末溅射研制的SnO2/CeO2酒敏薄膜的性能与膜厚、温度和掺杂量等关系的研究结果,并根据此结果对平面薄膜型敏感传感器的工艺和结构进行了设计;介绍了所研制器件的一些性能,并对有关问题进行了讨论。 相似文献
94.
研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法 总被引:3,自引:0,他引:3
X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法的基本原理,综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念 相似文献
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96.
本文用配有X射线能量色散谱仪、电子背散射衍射系统的场发射扫描电子显微镜研究了铁基非晶合金的晶化。试验选用Fe、Ni、P、Cu元素粉末及FeNb、Fe-B中间合金按原子分数配成Fe52、Ni15、CuNb2P14B6成分进行机械合金化试验。分析所用仪器为FEI公司的Sirion型场发射扫描电镜、EDAX公司的GENISIS X射线能量色散谱仪及TSL电子背散射衍射分析系统。 相似文献
97.
98.
用粉末靶射频磁控溅射的方法在650℃的(110)SrTiO_3衬底上成功地原位制备出起始转变温度96K,零电阻温度88.2K,用约0.4mm宽的桥在77K零磁场下临界电流密度达6×10~5A/cm~2,高度定向的钇钡铜氧超导薄膜,膜的厚度为0.22μm。发现控制溅射工艺参数并在溅射后进行原位热处理是获得高T_c超导薄膜的关键。 相似文献
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高级陶瓷粉末在装置和电子应用以及热喷涂方面是制作高级陶瓷元件所必需的成分。所采用的陶瓷粉末是氧化物、碳化物、氮化物和硼化物。根据美国商业通讯公司(BCC)的调查,1989年美国高级陶瓷粉末市场为1.17亿kg,价值4.17亿美元。1990年整个市场将达到1.20亿kg,价值4.60亿美元。预计到1995年,这一市场将上升到1.42亿kg,价值6.94亿美元。产值的平均年增长率为8.5%。 相似文献
100.
本文介绍了一种新型树脂—“粉末包埋树脂”的合成及性能。在三聚氰胺—甲醛的预聚浆液中加入无机离子交换剂磷钼酸铵(AMP),经悬浮聚合,可得到含有AMP的珠状“粉末包埋树脂”AMP—MF。这类树脂具有AMP的特殊选择性及优良的机械性能。珠状树脂适宜柱层析操作,克服了粉末状无机离子交换剂AMP不适于工业操作的缺点。本合成方法为制备特大孔型缩聚珠提供了一新的合成途径。 相似文献