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101.
高扭曲向列液晶显示器件的特性研究   总被引:2,自引:1,他引:1  
梁兆颜  梁珂 《液晶与显示》1997,12(2):112-115
本文研究了高扭曲向列液晶显示器件(HTNLCD)(扭曲角90~180°),此器件与扭曲向列液晶显示器件(TNLCD)相比较,能够增加液晶显示器件扫描行数并改善视角特性,其制造技术与TN器件相似,具有很大的应用价值。  相似文献   
102.
Bina.  SC  付士萍 《半导体情报》1996,33(5):42-43
用MOCVD法制备了在高电阻率GaN层上生长沟道厚度为0.25μm的GaNMESFET,这些器件的跨导为20mS/mm,其中一个栅长为0.7μm的器件,测得其fT和fmax分别为8和17GHz。  相似文献   
103.
104.
何进  张兴  黄如  王阳元 《半导体学报》2002,23(3):296-300
提出了用复合栅控二极管新技术提取MOS/SOI器件界面陷阱沿沟道横向分布的原理,给出了具体的测试步骤和方法.在此基础上,对具有体接触的NMOS/SOI器件进行了具体的测试和分析,给出了不同的累积应力时间下的界面陷阱沿沟道方向的横向分布.结果表明:随累积应力时间的增加,不仅漏端边界的界面陷阱峰值上升,而且沿沟道方向,界面陷阱从漏端不断向源端增生.  相似文献   
105.
利用单片机和CPLD实现直接数字频率合成(DDS)   总被引:1,自引:0,他引:1  
与传统的频率合成方法相比,DDS合成信号具有频率切换时间短,频率分辨率高,相位变化连续等诸多优点,使用单片机灵活的控制能力以及良好的人机对话功能与CPLD器件的高性能,高集成度相结合,可以克服传统DDS设计中的很多不足,从而设计开发出性能优良的DDS系统。  相似文献   
106.
107.
横向放大率法确定复合光学系统的基点   总被引:2,自引:0,他引:2  
曹国荣 《物理实验》2002,22(3):13-14,20
介绍了应用测量横向放大率确定两薄透镜组成的复合光学系统基点的方法。由于采用线阵光电耦合器件(CCD)测量物经光学系统成像的横向放大率,提高了测量精度。  相似文献   
108.
在利用直流光源型半导体位敏器件(PSD)进行测量时,常因环境光强的改变而引起误差。本文介绍的交变调制光源及其相应的PSD光电信号处理电路,可大大地降低和消除杂散光对测量的影响。  相似文献   
109.
110.
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