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241.
提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案的硬件组成和检测原理,给出了MATLAB算法流程和部分代码、介绍了GUI检测界面的设计和详细的检测步骤及结果,为TFT-LCD液晶屏显示缺陷的检测提供了一种快速有效的方法。  相似文献   
242.
方云团  潘小霞 《半导体光电》2007,28(6):819-821,877
用特征矩阵法研究不同结构缺陷光子晶体内部局域态场强的大小和分布特征.一维光子晶体缺陷模局域场一般以驻波的形式存在于缺陷内, 局域平均场强的大小与光子晶体构形、缺陷的结构参数、周期数密切相关.在同样条件下, 当缺陷模频率使光子晶体满足布拉格反射条件时, 缺陷模局域场的强度达到最大值.结构参数相同时, 缺陷模局域平均场强随周期数按e指数增加.研究结果对优化光子晶体的设计具有一定的参考作用.  相似文献   
243.
溅锡(Solder Spattering)是回流焊接中的常见缺陷,本文对某公司的一条生产线上出现的溅锡问题进行了分析,并给出了相应的解决方案。  相似文献   
244.
确信电子(Cookson Electronics)研发组专门研发出带有SACX合金的全新ALPHA OM-350无铅焊膏,能够提供卓越的SMT印刷性能,满足要求高产量和最低缺陷产品返修率的电子装配厂商的需求。  相似文献   
245.
林琳 《电子测试》2014,(18):150-152
近年来,随着电子元器件的小尺寸化与组装的高密度化,SMT的工艺窗口日趋缩小,组装难度亦越来越大。在此背景下,探讨如何减少SMT产品缺陷率及返修率,并尽可能提高SMT产品的质量,就显得尤为重要。本文在分析SMT产品缺陷的基础上,针对性的提出了几个可有效提高SMT产品质量的对策。  相似文献   
246.
247.
从势垒层和籽晶层、低k介质、检测和计量以及光刻等方面详细阐述了100nm技术的开发情况及其所面临的问题。  相似文献   
248.
249.
鲜飞 《电子信息》2000,(10):59-62
锡膏印刷是SMT生产中关键工序之一,其控制直接影响着组装板的质量。本介绍了提高锡膏印刷质量的一般要求。  相似文献   
250.
本文用X射线、电子显微镜和电子束阴极荧光方法,对在太空中生长的掺Te-GaAs单晶材料的结构完整性进行了实验研究.在地面生长的掺Te-GaAs有明显的杂质条纹,而在太空生长的晶体杂质条纹消失;在太空和地面生长的交界处于空间材料一侧的中心部位,存在一个大约5μm宽的高完整区.远离中心部位,空间材料的完整性降低,出现了大量位错并伴有微缺陷.实验结果表明:在微重力条件下生长化合物半导体GaAs对在其中的杂质均匀分布有利.在太生长时出现的大量位错和微缺陷,并不是在生长时由于失重所致,而是在太空生长时温度失控所引起的.  相似文献   
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