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CMOSIC抗闩锁、抗静电的测试及防护措施的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
通过对三种CMOSC4069 电路抗闩锁灵敏度、抗静电敏感度测试的研究和比较,提出高可靠性电路的质量评估。除对器件功能参数(直交流参数) 高低温参数测试外, 还必须对抗闩锁、抗静电敏感度进行测量和评估, 可真实反映器件的可靠性。避免CMOS器件在包装、运输和使用中带来隐患, 提出静电防护措施 相似文献
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