SGN-W6小型宽动态微光摄像组件

该摄像组件采用I-CCD技术和自动控制电路技术,能够在10-41x~1051x环境工作照度范围内正常工作。具有动态宽、功耗低、体积小及光动态响应速度快的特点,是可昼夜合一使用的摄像装备。能应用于公安刑侦、边防监视。摄像组件还适用于水下微光环境作业,可广泛用于探索海洋奥秘、探测和开采海底矿藏、进行水下工程、监视鱼群动向等。性能指标:分辨率/TVL:≥500信噪比/dB:≥40灰度:≥9级探测距离(星光下)/m≥250环境工作照度/1x:10-4~105(光动态范围)功耗/W≤2.5W外形尺寸/mm:132×71×62(不含镜头)工作温度/℃:-20~+50贮存温度/℃:-40~+55SG…     

变频器的组成与常见故障及维修对策

本文介绍了变频器组成结构及相应故障与维修对策。     

基于ST40GX1与STi5514的网络交互式数字电视机顶盒硬件设计

交互式机顶盒、数字电视已经从分立器件结构发展到单芯片解决方案。这是数字大规模集成电路制造工艺技术进步的结果，也是最大程度降低系统成本的必然要求。现代单芯片解决方案的机顶盒一般集成有CPU、解复用、音频视频解码、二维图形处理、编码和外设端口等模块。为节省芯片面积，     

高压合成Nb1-xB2（0〈x〈0．7）超导体的结构转变、电子结构和超导电性研究

自从MgB2（Tc=39K）超导体发现以来，AlB2型结构的二元化合物在实验和理论研究中都受到了日益广泛的关注。最近，我们利用高温高压方法合成了一系列具有Nb缺位的Nb1-xB2（0〈x〈0．7）化合物，得到了单相AlB2结构的样品。当0．2≤x〈0．5时，样品在8K附近出现明显的超导转变。结构分析表明，随着Nb含量的减少，晶格参数在x≈0．2处发生突变，在a-b面内收缩，沿c轴方向拉长。为了深入理解Nb1-xB2中超导特性与结构转变和电子结构的关系，我们对一系列Nb1-xB2样品进行了电子能量损失谱的测量；并且利用第一原理计算分析了材料的电子结构随成分变化的关系，得到了与实验一致的理论结果。     

电信资费上限管制政策实施盘点

作为发达国家当前普遍采用的一种电信监管形式,电信资费上限管制在我国这样一个背景特殊的国度实行,能否达到政府和人们心中预期的目标,还有待时间进一步验证,现在评价为时过早。但是,这项政策实施一年多以来,对我国电信市场的影响已经初见端倪。     

如何用硅振荡器替代晶体和陶瓷谐振器

对于绝大多数微控制器时钟电路而言，硅振荡器是一种简单且有效的解决方案。与晶体和陶瓷谐振器不同，基于硅材料的定时器具有抗振动、抗撞击和抗电磁干扰的优点。同时，硅振荡器不需要严格匹配的定时元件和线路板走线。     

温度采集仪调理电路的isp实现技术

介绍温度采集仪调理电路的结构及工作原理,简单介绍在系统可编程模拟器件ispPAC10的基本结构,并借助于PAC Designer软件详细描述ispPAC10实现温度采集仪数据放大器具体方法和步骤。与传统的模拟电路设计方法相比,运用isp技术实现的温度采集仪调理电路具有简洁可靠、开发周期短等特点。     

兼作电压监控电路的低压降线性稳压器

很多低压降稳压器都带有一个使能输入脚,它可以用作一个廉价的电压监控IC。虽然使能脚通常是用于切断稳压器的输出以节省功耗,但增加几个分立元件就可以使稳压器输出控制相应输入电压下的通、断。因此,可以将此电路用作一个电压监控器或一个特性受控的线性稳压器。     

负载Fe的ZSM-5分子筛催化剂的显微结构研究

ZSM-5是一种由Si(Al)O4四面体单元构成的沸石分子筛，具有正交结构，n=2．010nm、b=1．910nm、c=1．340nm。沿着[010]和[100]方向分别有直线型和正弦型的十圆环孔道，已有研究提出ZSM-5中掺入过渡族金属会促进烷烃的脱氢反应。本工作利用高分辨电子显微学方法配合EDS分析研究了在Fe掺杂     

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

对日益复杂的消费产品不断增长的需求，引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领城的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日，半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号IC。器件的复杂度在不断上升，但是其售价不可能随之飙升，半导体公司都发现他们面临看这样一个难题，即如何在降低测试成本的同时保证复杂的IC产品的质量。半导体公司发现他们需要改进测试构架、更先进的测试仪器、增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报。为了应付这些挑战，顶光的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量，而所花的成本只是传统ATE系统的一小部分。在ATE上开发应用程序时，新一代的混合信号测试仅不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要，这将有力地保护你在测试设备、硬件资源、数字混合器件上的工程投资。本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势，及其对测试成本的影响，和一些新的测试结构，这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活地适应未来正在形成的测试需求。