X射线荧光光谱分析陶瓷标准样品的研制

简要叙述了一套17种陶瓷标准样品的研制方法和制作过程,并对烧成试样进行了EPMA和X射线荧光光谱分析研究。结果表明:烧成试样与古瓷胎具有相近的物相结构(或基体),且胎体致密度高、吸水率低,主成分分布均匀(X射线束斑直径为2mm,α=0.05),完全能够满足用作陶瓷标准样品的技术要求。预期可将这套标准样品用于古瓷胎中Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,K2O,CaO,TiO2和Fe2O3等主成分的X射线荧光光谱定量分析,保证为古陶瓷研究和科学鉴定提供准确、可靠的分析数据。     

扫描电镜/电子探针中的阴极发光技术在地质学中的某些应用研究

阴极射线致发光(cathodoluminescence)是样品在高能电子束轰击下产生的一种物理现象。其强度、颜色(波长)与物质内部的微量掺杂元素和晶格缺陷及束流密度等因素有关。阴极发光技术在半导体、材料科学及地质学研究中都有特殊的应用。但是，目前在国内这些领域的应用都还十分有限。     

超轻元素Be元素的电子探针定量分析-以绿柱石为例

铍属于亲石元素（Goldschmidt＆Peters，1932），其上地壳克拉克值仅为3ppm（Taylor＆McLennan，1995），在地壳元素中其丰度列第47位。铍是重要的战略物资，是核反应器中必不可少的中子缓冲器，因此具有重要的国防和经济价值（Kupriyanova＆Rumyantseva，1994）。     

电子器件的失效分析

为了研究材料晶体形态与器件性能的关系及其形成机理,寻求提高器件质量的依据,利用显微设备、电子探针等对电子器件引脚可焊接性极差的失效现象进行了分析.     

榴辉岩中金红石的微量元素电子探针分析

金红石作为俯冲带变质岩（如榴辉岩）中容纳和控制高场强元素，特别是Nb、Ta元素配分的重要矿物一直受到许多地质学家的重视。Nb、Ta及其他高场强元素被广泛应用于作为地质过程和地球模式的指示剂，其地球化学行为在俯冲带地质作用及壳-幔相互作用的研究中具有重要的指示意义。近年来的研究还发现，金红石中的一些微量元素如Nb、Cr、W的含量与其原岩有继承和对应关系，具有原岩指示意义，可用于判断其原岩类型，即金红石的矿物化学在沉积岩的物源区研究及变质岩的原岩判别中也有重要的示踪作用。此外，最新研究表明，金红石中的zr元素含量与其形成温度有良好的线性关系，Zr元素含量可作为金红石形成温度的温度计，这样就有可能通过对不同变质阶段生成的金红石分别测量其Zr元素含量计算其形成温度以反演变质岩的变质演化P-T-t轨迹。     

电子探针对金属断口表面的方形研究

金属的断裂表面是粗糙的、不规则的,并具有自相似性质。因此,可能用分形方法进行研究。本文用EPM-810电子探针二次电子线扫描法。研究了45号钢不同回火温度条件下拉伸试样断裂表面的分形维数与断口表面粗糙度、断裂性质及微观组织之间的关系。     

μm量级碳晶体的EPMA状态分析

用EPMA-8705QH_1电子探针仪,对化学气相沉积法生长的小颗粒碳晶体进行了状态分析。分析结果表明,用化学气相沉积法生长金刚石薄膜的过程中,会产生不同形态的金刚石和石墨晶体,并发现金刚石和石墨的共生晶体。该发析方法不但能对每个μm量级晶体进行状态分析,而且还能对其表面形态进行观察,是小颗粒晶体状态分析和显微结构分析的有效方法。     

元素价态的电子探针分析及其应用

Fe和Mn氧化物价态的电子探针分析已见文献报导。本文研究Cu,Ni,Co,Fe,Mn,Cr及其氧化物的I_(Lα)/I_(Kα,I_(Lα)/I_(Lβ)强度比和Mo,Nb,Zr及其氧化物的I_((Lβ)_2)/I_((Lα)_1),I_((Lγ)_1)/I_((Lα)_1)强度比的价态效应,观察到强度比按一定规律随价态而变化,并利用此效应分析催化剂的价态。通过分析可以了解催化剂反应前后以及不同制备条件下价态的变化,这对了解催化过程有着重要的意义。     

电子探针定量分析中以高价氧化物为基元的α因子修正关系式

在氧化体系 (包括硅酸盐和其它含氧酸盐 )的电子探针定量分析的α因子修正方法中 ,通常以低价氧化物和余额氧为基元 (或称端员 )进行计算 ,这在应用上有时并不方便。本文推导了以高价氧化物为计算基元的α因子修正关系式。用此关系式对含有高价氧化物的试样进行分析时 ,可以直接得到高价基元氧化物的含量。对于有标样法和无标样联立方程法的计算 ,此关系式均可应用。高价基元氧化物的α因子值可由低价基元氧化物和余额氧的α因子值通过换算而得到。氧化物体系 (包括硅酸盐和其它含氧酸盐 )电子探针定量分析的α因子修正法[1,2 ] ,由于如下原…