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171.
大多数集成电路(IC)测试仪只能测试数字集成电路,不能测试模拟或线性集成电路,而少数线性IC测试仪价格昂贵,使普通电子技术人员陷入困境。本文介绍的模拟IC测试仪将提供可靠的方法来测试各种集成电路。尽管这种装置 相似文献
172.
173.
简要分析了白瓷双列直插外壳的失效模式和失效机理，并进行了模拟实验，通过对实验结果的分析，提出对成品微电路进行二次电镀能够提高其外壳的使用可靠性。 相似文献
174.
介绍了一种用于ＲＩＳＣ单片机ＰＩＣ１６Ｃ５７的寄存器堆，讨论了为降低功耗所采用的分块结构，详细说明了译码逻辑、ＳＲＡＭ单元、读／写电路和文件选择寄存器等电路的形式及其工作原理 相似文献
175.
李秀华 《电子工业专用设备》1996,25(2):36-37
集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制李秀华（西安微电子技术研究所７１００５４）１前言集成电路的可靠性主要取决于芯片的质量与封装技术的高低，而外壳的质量又是影响封装技术的关键。做为集成电路专业制造厂，使用白陶瓷、黑陶瓷、金属圆外壳、菱型外壳等几十个规格... 相似文献
176.
简述了ＧａＡｓ ＩＣ ＣＡＤ技术开发应用的现状及发展趋势，提出了我国在ＧａＡｓ ＩＣ ＣＡＤ技术开发应用方面的建议。 相似文献
177.
178.
本文提出了激光功能微调技术在高精度混合集成电路上的应用，讨论了关键技术问题，并以实例具体说明。该技术的应用为研制高精度混合集成电路开辟了新途径。 相似文献
179.
180.
混合微电子技术，推动了整个电子工业的发展。从市场和技术两个方面评述这种发展态势，重点介绍先进混合集成技术。 相似文献