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噪声测量作为筛选光电耦合器件的一种方法   总被引:2,自引:2,他引:0  
本文针对目前用于光电耦合器件筛选方法的不足,提出了用测量耦合器件噪声功率谱的方法来筛选掉噪声值大的器件,给出一批光电耦合器件的测量统计结果及在不同工作点时的噪声功率谱,并给出相应的筛选标准,实验结果表明,这种方法是有效、可行的。  相似文献   
115.
本文研究短程透镜的焦点位于端面外的球差特性。对焦点位于波导外部(包括端面)的情况给出了一种精确测量焦距新方法,采用这种方法简单易行,测量精度取决于读数显微镜的读数精度(0.01mm)。  相似文献   
116.
本文介绍两质量块相碰,通过测量碰撞时的力,间接测量质量块碰前速度,是一种先进、实用的测量方法,成功应用在“底-6底火试验仪”的测量.  相似文献   
117.
GIRSANOV’STHEOREMONABSTRACTWIENERSPACESZHANGYINNANAbstractLet(E,H,μ)beanabstractWienerspaceinthesenseofL.Gros.Itisprovedth...  相似文献   
118.
薄Si膜对基底表面粗糙度的影响   总被引:8,自引:3,他引:5  
利用ZYGO光学干涉测量仪,散射积分测量法观测了光学元件表面均方根粗糙度.详细分析了薄Si膜对基底均方根粗糙度的影响,由此认为薄膜并不总是复制基底表面的粗糙度,结果出现了薄膜降低表面粗糙度的现象.提出了一定厚度范围的薄Si膜的表面粗糙度存在着一个稳定值的新设想.  相似文献   
119.
120.
鲁卫红 《现代雷达》2002,24(2):17-20
提出利用测量设备与辐射源相对运动速度及测量设备所接收到的辐射功率的估算测量设备到辐射源距离的一种方法。对计算精度进行了分析,通过算例对理论分析进行了检验。  相似文献   
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