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121.
对In(0.2)Ga(0.8)As/GaAs应变多量子阱在77K下的光调制反射谱(PR)和热调制反射谱(TR)进行了实验研究.对PR结果的线形拟合指认了应变多量子阱中子能级的跃迁,并与理论计算结果作了比较.实验对比确认PR中11H、13H等跃迁结构为非耦合态、具有电场调制机构的一阶微商性质.而11L、31H、22H等跃迁结构为阶间耦合态,对这些隧穿耦合的低场调制产生三阶微商特性. 相似文献
122.
利用傅里叶变温红外光谱仪分别测定了三羟甲基甲胺(TAM)、季戊四醇(PE)及其二元体系变温红外谱。实验表明,多元醇分子中羟基吸收峰随温度升高耐发生位移向高波数移动,此结果既能反映多元醇及其二体系固-固相变的温度区间,又与转变热相对应,从而揭示了多元醇及其二元体系固-固相变贮热的机理。 相似文献
123.
本文采用高压X光衍射方法在金刚石对顶压砧中在位地(in situ)研究了Fe68Co24Ni8(wt%)合金在室温下的压致bcc→hcp结构相变和直到40.5 GPa的等温压缩行为。实验结果表明该合金在常压下为bcc结构,晶格常数a0=(0.287 0±0.000 1) nm,体积V0=(7.119±0.007) cm3/mol,密度ρ0=(7.981±0.008) g/cm3;在20.9 GPa附近出现bcc→hcp结构相变,两相共存压力区约10 GPa,在此区域内有晶面间距d(002)hcp=d(110)bcc,且原子平面(002)hcp//(110)bcc,hcp相比bcc相体积减小(0.33±0.02) cm3/mol;高压相hcp结构的晶格参数比值c/a=1.608±0.004;相变后原子配位数的增加使得hcp相(002)平面内及(002)平面间的最近邻原子间距比bcc相最近邻原子间距分别增大约1.6%和0.5%;用Murnaghan状态方程对实验数据进行最小二乘法拟合,得到bcc相B0=(130±13) GPa,B0'=12.6±0.5;hcp相V0=(6.62±0.04) cm3/mol,B0=(243±21) GPa,B0'=6.8±0.3;对于该合金的bcc→fcp相变时的结构转变机制做了详细的讨论。 相似文献
124.
随着信息产业的飞速发展,高频信号设备,如高速计算机、移动电话、卫星通信等,都已从兆赫频段扩展到千兆赫,这就意味着对它们所用的微波电路基板提出了更高的要求.长期以来,高频微波基板几乎没有越出使用聚四氟乙烯的老传统,但是,它有若干缺点玻璃化温度低,故刚性差;加工复杂,故成本高;金属化孔镀层与孔壁的结合力弱,故可靠性不高. 多年来,美国GIL科技公司一直在研制替代聚四氟乙烯的材料,经过姐妹公司的合作,终于研制成功了TPA板材,这种材料克服了上述缺点,从而获得了美国专利.本文介绍了TPA层压板的电气特性、机械特性和热效应,给出了许多宝贵数据. 相似文献
125.
126.
设 X_1,…,X_m i.i.d.是取值于 R~n 中的随机向量,X_1 有概率密度 f(x),取正随机变量 H_m(x,ω)=H_m(x,X_2(ω),…,(ω))为随机窗宽,f(x)的核估计与最近邻估计分别如下:f_m(x)=(mH_m~n(x,ω))~(-1)sum from i=1 to m K((X_i-x)/H_m(x,w))f_m(x)=(ma_m~n(x,w))~(-1) sum from i=1 to m K((X_i-x)/a_m(x,w)),m≥1,x∈R~n.假定 K 为 R~n 中有界变差函数,当 f(x)与 K(x)的条件比[1]弱时,我们讨论了 f_m(x)与 f_m(x)的一致强相合性。本文所得随机窗宽的结果与[1]中常数窗宽的结果相同,这些结果也比[2]和[5]中的要好。 相似文献
127.
128.
轴端沟槽底部激光强化工艺参数优化研究 总被引:1,自引:1,他引:0
分析了选用不同激光能量密度对HT300进行表面强化处理时,材料表面呈现的四种状况;未相变硬化、相变硬化、表面微熔与表面熔凝的金相组织。根据工艺要求,选取相变硬化方法对轴端沟槽底表面进行处理。分析了工件激光处理方法并通过试验研究,寻找轴端沟槽底部激光强化工艺参数;激光功率(P)、光斑直径(D)及扫描速度(V)的优化组合。硬度测试及耐磨性能试验表明:激光相变处理和激光熔凝处理后轴端沟槽底部表面较表面感应淬火硬度分别提高7%和34%,绝对磨损体积分别下降了13%和25%。实践证实,对轴端沟槽底部激光相变硬化处理方法较其他表面处理方法工艺简单,加工工件符合技术要求,试验结果对零件表面处理提供了可靠依据。 相似文献
129.
本文报导了LEC法半绝缘砷化镓单晶中含碳量对SI-GaAs热稳定性的影响。在800℃以上退火,发现当晶体中C含量大于1.5×10~(16)cm~(-3)时,SI-GaAs的热稳定性变差;而C含量小于5×10~(15)cm~(-3)时,通常表现出良好的热稳定性。 相似文献
130.
本征吸除硅片特性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文描述硅本征吸杂片的特性参数,如吸除区宽度、洁净度,氧沉淀密度、MOS电容寿命,介绍了表面态密度及残余间隙氧浓度的检测方法和工艺对参数的影响及参数之间的内在联系,文章还实验论证了不同参数水平对器件成品率的影响,建立了以MOS电容寿命为主导的参数控制方法,利用本文提供的控制参数,可使CCD-512器件成品率达60%,以上优品率≥85%。 相似文献