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形成SOI结构的ELO技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文研究了在常压外延系统中,利用 SiCl_4/H_2/Br_2体系在SiO_2上外延横向生长(ELO)单晶硅技术.比较了Br_2和HCl对硅的腐蚀速率,发现前者对娃的腐蚀速率约比后者慢一个数量级,指出Br_2的引入有着重要意义.给出了Br_2和H_2对Si和SiO_2的腐蚀速率曲线,讨论了外延横向生长速率对SOI结构的材料表面形貌的影响.在该 SOI膜上制造了 MOS/SOI器件,其N沟最大电子迁移率为360cm~2/V.s(沟道掺杂浓度为 1×10~(16)/cm~3),源-漏截止电流为 9.4×10~(-10)A/μm. 相似文献
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评术字制备纳米级掺杂结超晶格材料的MBE技术,给出了材料性能和器件研制结果,从微结构设计出发,研究了平面掺杂GaAs/Al(Ga)As超晶格结构二维电子气有关性质,实验研究取得了重要的进展。 相似文献
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在波长γ=632.8nm,入射功率约0.8m的He-Ne激光照射下,对TlBa2Ca2CuO2(Tl-2212)外延膜的光响应行为进行了实验研究。结果显示:在样品转变温度(Tc=105.5K)附近,TlBa-CaCuO外延膜的光响应行为表现为辐射热与非辐射热效应共存现象。光响应信号电平与样品温度、偏置电流、及入射光束的调制频率等诸因素有密切关系的关系。实验结果还表明,辐射热与非辐射热效应的响应行为 相似文献
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用电流控制液相外延(CCLPE)方法首次在(100)InP衬底上成功地生长出In1-xGaxAsyP1-y(0.30<x<0.47,0.70<y<0.96)外延层,并对外延层特性进行了详细研究,提出在InP衬底上生长电外延层的机理,推导出生长动力学的理论模型,该模型与上述实验结果十分吻合。 相似文献
49.
稳态双曲流场中液/液混合的粘性液滴哑铃分散模型 总被引:1,自引:0,他引:1
通过对稳态双曲流场中液/液混合体系分散相液滴所受分散作用力的分析,建立了粘性液滴的哑铃分散模型.趋于将两粘性液滴分开的分散作用力与粘度比、流场类型和强度、液滴半径、哑铃取向和尺寸有关.该模型解释了流场类型与分散作用的关系.流场类型对液滴的分散具有很大影响,在纯应变拉伸流场中分散作用力是简单剪切流场中的两倍,因而对于液滴的分散,拉伸流场较简单剪切流场更有效,这与以前的实验结论符合.当体系粘度比趋于无穷大时本模型转化为刚性哑铃分散模型 相似文献
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