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《电子产品可靠性与环境试验》2012,(4):27
为了扩大可靠性与环境适应性技术的应用范畴,推动科技工作的不断创新和持续发展,增强科技人员的技术交流和相互沟通,起到总结、提高、借鉴和促进的作用,《电子产品可靠性与环境试验》杂志于2012年5月出版了1期增刊。增刊收 相似文献
122.
CadenceDesign设计系统公司日前宣布其全套3D-IC技术与流程已为中国台湾工业技术研究院(ITRI)所采用,用于开发一款3D-IC芯片。Cadence与ITRI的工程师合作,使用综合的Cadence3D-IC流程实现、分析与验证测试芯片--硅穿孔(TSv)的宽I/O存储器堆叠。这种多个Ic被堆到单个封装里的3D-IC法,对于满足高级电子产品的尺寸、成本、功耗与性能要求变得越来越重要。 相似文献
123.
目前,电源工程师面临的一个主要难题是,随着商用电子产品的功能日益增多,其尺寸不断缩小,留给电源电路的空间越来越少。解决该难题的办法之一就是充分利用MOSFET技术和封装的进步。 相似文献
124.
125.
Darin Billerbeck 《电子产品世界》2014,(9)
正莱迪思(L att i ce)半导体公司总裁兼CEO Darin Billerbeck近日访华,带来了最新推出iCE40U l t r a产品系列,并谈了莱迪思FPGA的独特定位。iCE40 Ultra?独家集成了红外遥控、条形码、触控、用户识别、计步器等新兴功能以及可供定制的极大灵活性,可加速移动设备的"杀手级"功能定制。相比竞争对手的方案,iCE40 Ultra FPGA在提供5倍更多功能的同时减小了30%的尺寸。并且相比以前的器件,功耗降低高达75%。 相似文献
126.
127.
128.
用于各种电器、电子产品辐射骚扰试验的天线,通常在是开阔场进行校准的。这种用来校准天线的开阔场被称为CALTS(Calibration Test Site),包含测试中的不确定度在内,与理论计算值偏差要求在 相似文献
129.
《电子技术与软件工程》2017,(8)
随着电子科技的不断发展,电子产品的种类和数量越来越多。在封装、焊接和使用过程中,受到各种因素的影响,电子产品的电子电路可能会出现一定的故障,不仅影响电子产品的质量,也降低了其使用安全性和可靠性。因此,必须要加强对电子电路故障的检测。 相似文献
130.