光缆拉伸应变分布测量的新方法：布里渊光纤时域分析技术

通信光缆拉伸应变分布测量对于保证光纤通信线路的长期可靠性具有十分重要的意义。文章论述了布里渊光纤时域分析技术的背景、现状、描述了该技术的基本原理，存在的问题以及目前研究的最新进展。     

实现测试复用的SOC设计中的测试结构

在系统芯片SOC(system on a chip)设计中实现IP核测试复用的芯片测试结构一般包含两个部分：1)用于传送测试激励和测试响应的片上测试访问机制TAM;2)实现测试控制的芯片测试控制器。文章分析了基于测试总线的芯片测试结构,详细阐述了SOC设计中测试调度的概念,给出了一种能够灵活实现各种测试调度结果的芯片测试控制器的设计。     

DCF在长距离光纤传输系统中用于色散补偿的局限性

本分析了现有DCF进行色散补偿存在的缺陷,并对温度由-4℃～60℃变化时色散补偿光纤(DCF)、普通单模光纤(G．652)和非零色散位移光纤(G．655)在S、C和L波段的色散和色散斜率进行长时间测试,指出色散斜率不匹配是限制现有DCF在未来高速、大容量光纤通信系统中应用的主要障碍之一。     

芯片级嵌入式温度稳定装置确保高精度和低成本测试

1引言测试系统精度和可靠性依赖于测试系统电子器件散热及保持定时脉冲生成器集成电路(IC)的稳定接合温度的能力。在对更快速度器件进行测试的过程中,为了满足需要,以往通常在测试系统中用于生成定时边缘的高性能IC器件已经要求采用日益强健的热管理系统。运用科利登公司的芯片级温度稳定专利技术,先进的基于CMOS的测试系统可以轻松满足那些正在生产测试流程中出现的定时精确性和性能要求。与之相结合,科利登公司具有创新意义的系统级空气冷却和嵌入式温度稳定技术为Octet系统提供了可持续有利条件,它不仅提供了必要性能,且与其它可替换…     

LED光色电综合性能分析测试原理与仪器

光色电综合性能参数是LED的主要技术指标,LED光色电综合性能的准确快速测量,对LED研发、制造和品质具有重要意义。本文介绍了LED光色电综合性能分桥测试原理和仪器的主要技术指标,仪器满足CIK推荐标准条件。     

新发布的10项通信行业标准简介

近日,信息产业部以“信部科[2002]567号及595号”文发布了"800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网无线智能网(WIN)阶段 1:业务控制点(SCP)设备技术要求”等10项通信行业标准,简介如下:     

一种基于移动代理的新型网管接口一致性测试模型的研究

为解决传统的网管接口测试方法中存在的智能性和灵活性不够等缺点,文中提出了针对网管的接口一致性测试模型,将移动代理技术应用到网络管理的测试中,着重体现了一种新型的网管测试技术。     

基于模糊图像合成的微结构平面运动测量技术

动态测试技术在MEMS研发过程中具有极为重要的作用。本文在机器微视觉的MEMS动态测试系统的基础上,基于模糊图像合成技术对MEMS谐振器的运动特性如谐振器的运动幅度、谐振频率f及品质因数Q等重要参数进行了测试,并给出了实验结果。     

MEMS冷气推进器的制作及实验研究

介绍了一种两层结构的MEMS冷气微推进器的设计和制作。并从不同的膨胀比和喉部尺寸的角度,对微推进器的推力和比冲性能进行了实验测量。实验结果表明,所制作的微推进器可以达到的最大推力在3．3～4．9mN之间,比冲在51．0～66．3s。