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We study the pulsed laser ablation of wurtzite gallium nitride(GaN) films grown on sapphire,using the femtosecond laser beam at a central wavelength of 800nm as the source for the high-speed ablation of GaN films.By measuring the backscattered Raman spectrum of ablated samples,the dependence of the ablation depth on laser fluence with one pulse was obtained.The threwshold laser fluence for the ablation of GaN films was determined to be about 0.25J/cm^2,Laser ablation depth increases with the increasing laser fluence until the amount of removed material is not further increased.The ablated surface was investigated by an optical surface interference profile meter. 相似文献
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扬声器系统对晶体管功率放大器输出级的影响张轻屯杨成东前言日常生活中使用音响器材时,有时会出现一些高级晶体管功率放大器推动一个普通扬声器系统时,还不如老式的单边变压器耦合输出或者OTL输出推动时听音效果好的问题;或者某些品牌机只能去推动某些扬声器系统才... 相似文献
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本文通过分析传统《高等数学》教材内容编排的一些不足 ,提出了模块教学的整体思想 ,并制定了模块教学的设计方案 相似文献
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