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951.
1用λ/4波片和检偏器鉴定椭圆偏振光存在的缺点 鉴定椭圆偏振光常用的方法是先用检偏器鉴定椭圆偏振光长短轴的方位,再用λ/4波片使之转化成线偏振光,然后用检偏器找到消光位置.  相似文献   
952.
针对强光光学元件高精度检测中使用的两个新参数一——波前位相梯度和功率谱密度的数值计算方法进行了研究,并对目前使用的大口径干涉仪传递函数进行了实验标定。  相似文献   
953.
王晓平  胡海龙 《物理》2003,32(4):257-262
简述了高聚物薄膜玻璃化转变的复杂性,并结合文章作者的的一些研究结果介绍了扫描力显微术(SFM)在研究高聚物玻璃化转变中的一些方法,包括观察高聚物薄膜形貌的变化,测量其摩擦力、粘附力和弹性模量等物理量的变化,最后指出SFM是研究高聚物薄膜玻璃化转变的有力工具。  相似文献   
954.
像全息的水下应用   总被引:2,自引:1,他引:1  
基于开发海洋事业的需要,对如何拍摄好水中物体的全息图进行了详细的理论分析,并利用像全息的方法成功拍摄到了一系列富有工艺美感的水下物体的全息图。针对拍摄的全息图进行了细致的定性、定量分析,最后对仪器开发和应用前景作了初步的探讨。  相似文献   
955.
光电变色器件用纳米晶氧化钛薄膜的微结构与特性   总被引:2,自引:2,他引:0  
唐洁影  张旭苹  孟莉莉 《光学学报》2003,23(12):502-1506
纳米晶TiO2薄膜在光电变色器件中具有很重要的作用。它的微结构直接影响染料的吸附、光的散射以及电荷输运的特性。因此,探索TiO2薄膜的微结构(如粒径、表面形貌和厚度等)及光电性能是非常有意义的。采用电子束蒸发工艺制备了光电变色器件用纳晶TiO2薄膜,利用原子力显微镜、X射线衍射、俄歇电子能谱等手段对纳米晶TiO2薄膜的表面形貌、结晶状态及组分进行了分析。从理论上研究和讨论了纳米晶TiO2薄膜晶粒尺寸对光电性能的影响,并用量子限制效应解释了吸收光谱峰值波长随粒径减小而发生蓝移的现象。  相似文献   
956.
陈静  陈波  周丽萍 《光谱实验室》2003,20(5):777-780
利用高效液相色谱和分光光度法,研究了新合成的5个苯磺酰苯胺类化合物的酸离解常数和脂溶性,结果表明,他们具有较弱的酸性和合适的脂溶性。预计会有较好的抗肝片吸虫活性。  相似文献   
957.
钢丝绳隔振器最早由美国于20世纪70年代末研制成功,它是一种典型的非线性隔振器,阻尼特性与变形有关,具有良好的隔振性能。文中以特定电子器件的隔振设计为出发点,对比研究了采用钢丝绳隔振器时的隔振效果,为最终设计定型积累了试验数据。  相似文献   
958.
纳米Mg-Ni贮氢材料具有成本低,活化容易、贮氢容量大,吸放氢动力学性能优异等特点,有很大的应用前景。本文用机械合金化法进行了纳米Mg-Ni合金的制备,且对制备的粉末进行了XRD,TEM,SEM等微观结构的分析。  相似文献   
959.
We study the two samples of AlInGaN,i.e.,1-μm Gan grown at 1030℃ on the buffer and followed by a 0.6μm-thick epilayer of AlInGaN under the low pressure of 76 Torr and the AlInGaN layer deposited diectly on the buffer layer without the high-temperature GaN layer,by temperature-dependent photoluminescence(PL) spectroscopy and picosecond time-resolved photoluminescence(TRPL) spectroscopy.The TRPL signals of both the samples were fitted well as a stretched exponential decay at all temperatures,indicating significant disorder in the material.We attribute the disorder to nanoscale quantum dots or discs of high indium concentration.Temperature dependence of dispersive exponent β shows that the stretched exponential decay of the two samples comes from dfferent mechanisms.The different depths of the localization potential account for the difference,which is illustrated by the results of temperature dependence of radiative recombination lifetime and PL peak energy.  相似文献   
960.
X射线衍射摇摆曲线的计算机模拟是一种获得材料晶体质量参量的有效方法,其中材料本征摇摆曲线的计算是计算机模拟的基础。用X射线动力学理论计算了Hg1-xCdxTe和Cd1-zZnzTe本征反射率曲线,并研究了组分、膜厚分别对本征反射率和半峰全宽的影响。结果表明Hg1-xCdxTe和Cd1-zZnzTe的本征反射率和半峰全宽与材料组分和厚度有明显的依赖关系,且该依赖关系取决于X射线在材料中的散射和吸收的相对强弱。薄膜的厚度也是直接影响本征摇摆曲线峰形、半峰全宽和反射率的重要因素,当薄膜厚度小于穿透深度时,表征本征反射率曲线的各个参量均与薄膜厚度有直接的关系。对于(333)衍射面,碲镉汞材料厚度大于7μm后,本征反射率和半峰全宽将不再发生明显变化。  相似文献   
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