一种D类功放中0.5 μm CMOS轨到轨比较器设计

文章设计了一种D类功放中的轨到轨比较器电路。相比于传统的比较器电路,该设计解决了共模信号输入范围大时性能不稳定的问题。仿真表明该比较器电路在-40～125℃和各种工艺角条件下,共模输入电压范围最大可以达到0～5.5V。在125℃高温和5.5V高压条件下,平均工作电流约为0.5mA,性能指标接近并部分超过一些商用芯片。该芯片已经通过0.5μm CMOS工艺流片验证,测试效果良好。     

关于利用斩波稳定架构零漂移运算放大器优势的切实考量

零漂移运算放大器是一种特殊形式的运算放大器,适用于精密应用。在这些应用中,由于差分输入信号非常小,输入引脚上的任何偏移都可能在输出端引起严重误差。除了具有低输入的失调电压外,这些专用的运算放大器还可以在较广的温度和时间范围内具有高共模抑制比(CMRR)、高电源抑制比(PSRR)、高开环增益和较低的漂移等特性。     

应用于升压电荷泵的自适应衬偏电路

本文设计了一种应用于升压电荷泵的自适应衬偏电路,主要解决电荷泵开关管的电气性能的可靠性问题。该电路主要采用迟滞比较器和触发器相结合的结构,保证PMOS开关管的衬底电位始终和源极、漏极中较高电压保持一致。仿真结果表明,在二倍压电荷泵上应用此衬偏电路,衬底电压始终保持在对应开关管的最佳电位,漏电流可以降低90%,电荷泵的工作效率可以提高4%。     

消除高速运算放大器AD827的失调电压

ＡＤ８２７高速运放的基础设计的高速,高精度,低漂移,宽频带偏转放大器,其开环增益优于１３０ｄｂ。本文给出偏转放大器的框图和输入输出关系,以及消除失调电压的相关计算。     

一种低延时低功耗PWM比较器电路设计

设计了一种基于HHGrace 0.35μm BCD工艺的低延时低功耗电压型静态脉冲宽度调制（Pulse Width Modulation, PWM）比较器,主要应用于高频低功耗的开关电源系统。设计中包含动态尾电流源和改进型正反馈放大器,以改进传统跨导放大器（Operational Transconductance Amplifier, OTA）型比较器高延迟和高功耗等问题。仿真结果表明：在1.2～5.0 V供电电压范围内稳定工作,最大上升沿延时35 ns,最大下降沿延时41 ns,支持6 MHz开关频率的系统,比较精度8 mV,失调电压439μV,静态功耗仅为2.5μA(1.2 V供电)和4.4μA(5.0 V供电)。     

异步集成电路标准单元的设计与实现

设计异步集成电路时,常用的异步标准单元的分类、电路设计方法和电路结构．详细介绍了C单元和异步数据通路的设计与实现,提出了一种异步实现结构的异步加法单元、异步比较单元和异步选择单元电路．利用设计的异步标准单元构成了一个适用于Viterbi解码器的异步ACS(加法器一比较器一选择器),并通过0．6μmCMOS工艺进行投片验证．当芯片工作电压为5V,工作频率为20MHz时的功耗为75．5mW．芯片的平均响应时问为19．18DS,仅为最差响应时间23．37ns的82％．从而验证了异步标准单元的正确性和异步电路在性能方面较同步电路存在的优势．     

具有带隙结构的迟滞比较器电路设计

基于LED驱动的微功耗DC—DC转换器,针对低压高稳定性的要求设计了一款具有带隙结构的迟滞比较器电路,它的最低输入电压为1．2V,其核心电路有带隙基准比较器、射极跟随器和迟滞比较器。整个电路采用Bipolar工艺设计,利用HSpice软件对所设计的电路进行了仿真与验证。结果表明,迟滞比较器的迟滞电压为8mV,翻转门限电压随输入电压和温度的变化均很小。     

基于LED驱动芯片的低温漂CMOS基准电压源

设计了一种低温漂CMOS基准电压源,应用于LED驱动芯片中.采用基本的带隙基准电压源原理,并对结构进行了改进,减小了失调电压对输出的影响,同时可以提供多路输出,满足LED驱动芯片中多个基准电压的需求.基于CSMC 0.5μm CMOS工艺对所设计电路进行了模拟仿真.常温(25℃)下,电源电压为4V时电路具有稳定的三路输出:200mV、600mV和1V,温度在-45～85℃变化时,温度系数为16.9ppm/℃,PSRR大于-70dB@1kHz.     

基于FPGA的二取二总线数据比较器

基于FPGA的二取二总线数据比较器实现联锁逻辑运算的两块CPU板总线数据的实时校核。在两条总线数据比较一致且总线数据的CRC校核通过时两个FPGA分别输出互为反相的动态脉冲,板上驱动电路输出信号控制板外供电继电器对联锁系统驱动单元供电,否则通过停止输出动态脉冲在50ms内切断供电继电器。出现校核错时FPGA将比较不一致的两个数据及在对应数据包中的位置等信息反馈给对应CPU板,便于故障分析。通过监测回读信号实现板上驱动电路的实时检测,在驱动电路出现硬件故障时可导向安全。该比较器遵循EN50128,EN50129和EN50126标准流程开发,已通过欧标SIL4级安全认证。