生产函数的优化回归方法

本文讨沦了生产函数的理论定 义及常用方法，并提出了生产函数的一种优化技术．利用数据包络分析方法确定生产前沿面，求样本点在该边界面上的投影，然后对投影点进行统计回归即获得随机前沿生产函数．     

508cm双机液晶投影系统

日本夏普公司开发了亮度提高2倍的高清晰度液晶投影系统,以2台液晶投影机同时进行驱动。该系统的光束为360lm,508cm 的画面亮度为31cd/m~2,接近于35mm 胶片电影的水平,得到了清晰而又明亮的图象效果。尤其在改善亮度上效果明显,与原液晶投影图象相比,在清晰度、对比度、色纯度和灰度等级重现性方面都有所改善(表1)。     

高灵敏可见／紫外条纹相机的最小可探测能量密度

分析了影响条纹相机最小可探测能量密度的主要因素，通过采用两级增强器级联的方法降低了条纹最小可探测能量密度。利用超短激光脉冲经过标准具后形成一个能量等比衰减的脉冲序列，对ＺＰＴ－３Ｋ紫外／可见皮秒条纹相机的最小可探测能量密度进行了测量。测量表明：相机最小可探测能量密度在可见波段（５３２ｎｍ）达１×１０－１３Ｊ／ｃｍ２。     

满意正交表及其判别方法

本文提出了满意正交表的概念，并且利用正交表和投影矩阵的正交分解之间的关系给出了满意正交表的一种判别方法。     

Reduction of Dislocations in GaN Epilayer Grown on Si （111） Substrates using a GaN Intermedial Layer

GaN intermedial layers grown under different pressures are inserted between GaN epilayers and AIN/Si（111） substrates. In situ optical reflectivity measurements show that a transition from the three-dimensional （3D） mode to the 2I） one occurs during the GaN epilayer growth when a higher growth pressure is used during the preceding GaN intermedial layer growth, and an improvement of the crystalline quality of GaN epilayer will be made. Combining the in situ reflectivity and transmission electron microscopy （TEM） measurements, it is suggested that the lateral growth at the transition of growth mode is favourable for bending of dislocation lines, thus reducing the density of threading dislocations in the epilayer.     

微型圆光栅刻划偏心量的控制

对微型圆光栅刻划偏心误差问题进行了讨论。提出了微型圆光栅刻划时偏心调试误差的公差范围。     

关于纽曼投影式含义的考证

在构象异构的教学活动中我们发现,教师对纽曼(Melvin S.Newman)投影式含义的理解存在歧异,于是我们带着这个问题做了一点考证。大凡基础的有机化学教科书,在介绍构象概念之后,一般均介绍了构象式的画法。构象的书面表示法,概括起来有三种:一是球棍式,二是萨哈斯(Sawhorse)投影     

全息散斑条纹的提取及图像处理

介绍了一种新的全息散斑条纹的提取方法.理论和实验表明:对全息散斑底片逐点再现时,两伴生亮斑条纹是全息散斑底片一级衍射光的杨氏干涉条纹,与中央的杨氏条纹是一致的,有较高的条纹对比度且没有背景光晕的影响.利用计算机数字图像处理技术对伴生散斑条纹进行处理,定量测试了受静载物体的面内位移.     

线性相关计算法形成数字剪切散斑相关条纹图

本文提出了用线性相关计算法形成数字剪切散斑干涉条纹的新方法,从理论分析和实验研究均证明,用该方法所获得的数字剪切散斑相关条纹图在图象监视器上易于观看,条纹图象光强无直流分量影响且可见度较减模式要高,该新方法的采用为今后的条纹图象分析奠定了基础。