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将表面势的概念引入GaAs高电子迁移率晶体管器件结构,以建立可精确描述HEMT器件输入/出特性的新模型。通过分析最基本的HEMT结构,参考Si基MOSFET中Pao-sah模型的分析方法,对沟道电荷利用泊松方程表述,并结合能带电压关系,建立HEMT器件中表面势(Φ_s)对于栅压(V_(GS))的关系。基于上述分析计算了沟道中电子的饱和点。根据推导所得方程,模型计算得到的某具体器件沟道面电荷密度(n_s)-栅压(V_(GS))关系曲线和基于T-CAD工具仿真结果在线性区得到很好的吻合。 相似文献
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基于改进故障模型的CAN总线调度分析 总被引:2,自引:2,他引:0
鉴于数据传输总线的诸多优点,建立总线式体制是现代导弹控制系统互联方式发展的必然趋势。CAN总线是一种设计优良的总线,但缺点在于其事件驱动型的协议导致无法建立CAN总线的可靠调度策略。Tindell给出的基于最小间隔故障模型的WCRT调度分析方法在强干扰环境中会导致乐观偏差,因此需要建立一种CAN总线在复杂环境中的更加准确的调度分析方法以指导可靠的系统设计。基于此目的,给出了一种基于广义泊松过程的改进故障模型,并在此基础上建立了CAN总线消息的调度分析。最后将该调度分析应用于导弹控制系统,并分析了对总线调度能力构成影响的因素。 相似文献
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结合应变硅金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)结构,通过求解二维泊松方程,得到了应变Si沟道的电势分布,并据此建立了短沟道应变硅NMOSFET的阈值电压模型.依据计算结果,详细分析了弛豫Si1-βGeβ中锗组分β、沟道长度、漏电压、衬底掺杂浓度以及沟道掺杂浓度对阈值电压的影响,从而得到漏致势垒降低效应对小尺寸应变硅器件阈值电压的影响,对应变硅器件以及电路的设计具有重要的参考价值.
关键词:
应变硅金属氧化物半导体场效应管
漏致势垒降低
二维泊松方程
阈值电压模型 相似文献
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1998年北京国际马拉松比赛的路线是一条新开辟的路线:由天安门广场出发,经西单、复兴门、月坛北街、甘家口、八里庄桥、长春桥、巴沟西口、知春路、健德门桥、北沙滩桥、清河南桥折返经北沙滩、安大路口、小关北口、北土城环岛,进奥体田径场西门,在田径场内绕两圈后到达终点。 相似文献