计算机通信接口与物理实验

在物理实验中引入“计算机应用”是当前教改的任务之一。也是实验教学发展的必然趋势。本通过重力加速度和型材杨氏模量的测量实验，说明计算机通信接口在物理实验中应用的可行性。     

霍尔位置传感器法测杨氏模量预习系统的设计与实现

通过设计霍尔位置传感器法测杨氏模量实验的预习系统,可帮助学生学习霍尔位置传感器法测杨氏模量实验仪器的功能及使用方法,并通过模拟实验装置仪器,使学生熟悉实验过程。阐述了该系统的主要功能模块,着重介绍了模拟实验操作的关键技术及实现方法。     

高密度聚乙烯（HDPE）在静高压下的强度研究

 高密度聚乙烯（HDPE）在1~2 GPa的静高压下发生熔体结晶。用压缩的方法对经过高压处理后的样品进行了杨氏模量的测量。测量结果表明：样品的杨氏模量随压力和结晶度的增加而增大，最大值达到1.46 GPa。伸直链晶体的形成是杨氏模量增加的重要因素。     

石墨炔管能带和力学性质的第一性原理研究

基于第一性原理计算,这篇文章研究了单壁锯齿型和扶手型石墨炔管的几何结构、电子结构以及杨氏模量.计算表明:石墨炔管是一类具有一定能隙的直接带隙半导体管,其带隙在0.4-1.3eV的能量范围,且随管径的增大而变小.而石墨炔管的杨氏模量在0.44-0.50Tpa区间变化.对于锯齿型石墨炔管,其杨氏模量随着半径的增大而变小而锯齿型石墨炔管的杨氏模量随其半径的增大而增大.     

利用光纤传感器测量金属丝的杨氏模量

将反射式光纤位移传感器应用于杨氏模量测定仪,可以精确地测定金属丝杨氏模量。     

杨氏模量的不确定度评定

本文介绍杨氏模量的不确定度计算方法。     

HfO2-SiO2混合膜力学性能

利用离子辅助电子束双源共蒸发工艺方法,制备了SiO2掺杂含量分别为0、13%、20%、30%、40%和100%的六组HfO2-SiO2混合膜。采用纳米压痕法测量了不同组分混合膜的杨氏模量和硬度,并研究了混合膜杨氏模量和硬度随SiO2含量增长的变化规律。结果显示,随着SiO2含量增加,混合膜杨氏模量和硬度均减小,双组分复合材料并联模型可以较好地拟合杨氏模量随混合膜SiO2含量变化关系。为了解释混合膜力学性能随SiO2含量变化规律,对混合膜进行了XRD测试,研究了混合膜微观结构与杨氏模量和硬度的关系,发现结晶对硬度影响显著,对杨氏模量影响较小;用Zygo干涉仪测量了样品的面形,获得了薄膜残余应力随SiO2含量的变化规律,表明SiO2掺杂能减小HfO2薄膜压应力。     

掺杂石英系单模光纤对BSBS频移的影响

报道了对几种掺杂SiO₂石英系单模光纤的背向受激布里渊散射(BSBS)谱的实验结果,结果表明其布里渊散射斯托克斯频移主要取决于纤芯的掺杂材料和浓度,进一步分析证明了光纤掺杂后将主要通过调制杨氏模量的变化,从而导致BSBS频移量减小.     

改进机械特性的全介质光缆

全介质光缆在接入网和干线网中的应用快速增长。在某些特殊的应用场合，安装通信光缆时现有“路由权”的开发也需要具有高机械特性的全介质、轻量和柔软的光缆。光缆机械性能对于保证安装和使用寿命期内的高可靠性很重要。另外。重量轻和易弯曲的结构可以最大限度减少纵向加强元件的使用，由此降低光缆成本和安装成本。研究了光缆处于横向力下的机械性能。为了突出各个保护层的作用。采用不同的设计生产了各种光缆试样并在不同能量级(冲击)和压力(压扁)下进行了测试。所有的光缆试样采用相同的光纤纤芯。以便对不同外部保护层的作用进行有效对比。结果表明，通过采用具有确定杨氏模量和能量吸收能力的材料而制造的恰当的多层结构，可以显著增强光缆的抗冲击性和耐压扁性能。现已证实，对于某些应用，用介质保护层替代金属保护层是可能的，因为介质保护层可以获得相同的耐压扁性能且抗冲击性提高了两倍多。另外还对采用附加介质保护层以确保所有金属保护功能(如防啮齿动物)的情况进行了研究。总之，新研制的全介质光缆表现出显著的弯曲刚度和重量减轻的特点，完全满足目前大多数网络应用的要求。     

杨氏模量测量实验中视丝测距的不确定度评定

本文根据不确定度的分析方法，结合杨氏模量测量实验的教学情况，对用尺读望远镜视丝测距的不确定度进行了详细的分析，并给出了完整的测量和计算结果。