原子吸收法测定精硒中碲铅铋锑铜铁镍镁

以二氧化硒形式挥发除去主体硒后,用原子吸收光度法,同时测定精硒中碲、铅、铋、锑、铜、铁、镍、镁八种元素。方法的测定范围:碲、铅、铋、锑为0.0005％～0.003％,铜、铁、镍、镁为0.0002％～0.002％。试样加标回收率在90％～105％之间。方法简便,结果满意。     

ICPMS测定高纯氧化钇中痕量稀土杂质的研究

研究了直接电感耦合等离子质谱（ＩＣＰＭＳ）测定９９．９９９％纯度氧化钇中稀土杂质的方法，详细探讨了仪器工作参数对稀土元素的测定的影响，对各种干扰现象进行了研究，并提出定量校正方法，实验表明，加入内标元素可有效地克服基体效应、接口效应和仪器工作参数漂移的影响。方法的检出限为０．００３～０．０２ｎｇ／ｍｌ，变异系数（ＣＶ％）为０．２％～５．４％，回收率为９０％～１１５％。适合９９．０％～９９．９９９％     

二安替比林甲烷光度法测定工业硅中钛

工业硅中杂质元素的测定 ,一般只测定其中的铁、铝、钙含量[1,2 ] 。在近年的出口工业硅检验中 ,对钛也提出检测要求。本法采用二安替比林甲烷光度法[3 ] 测定工业硅中钛 ,方法简便、稳定 ,结果准确。1　试验部分1.1　仪器与试剂ＴＵ 190 1分光光度计 (北京普析通用仪器公司 )Ｔｉ(Ⅳ )标准溶液 :0 .1ｍｇ·ｍｌ- 1,称取高纯二氧化钛 0 .16 6 8ｇ于铂金坩埚中 ,加焦硫酸钾 5～ 7ｇ于6 0 0℃熔融 ,冷却 ,用Ｈ2 ＳＯ4 (5 + 95 ) 10 0ｍｌ浸提熔块后移入 1Ｌ容量瓶中 ,并以Ｈ2 ＳＯ4 (5 + 95 )稀至刻度。使用时再稀释成 5 μｇ·ｍｌ- 1标准工…     

用薄层色谱法分离结晶紫染料中杂质的研究

结晶紫是三苯甲烷染料中具有代表性的化合物。它有多方面的性能,例如,它是有机半导体化合物有机光导体的增感剂。也是电子共振理论的研究对象。近年来,关于萤光衰减和激光“烧洞”等方面的工作,都需用纯度很高的样品。关于用色谱法分析和分离的工作,已有一些报道。本文报道的是关于使用国产的硅胶粉,制     

磷酸三丁酯色层分离—电感耦合等离子体原子发射光谱法测定U3Si2

本法对Ｕ３Ｓｉ中２２个微量杂质元素的测定，进行了较系统的实验研究，取样１００ｍｇ时，Ａｌ、Ｃａ、Ｃｄ、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｈｆ、Ｉｎ、Ｍｇ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｂ、Ｎｉ、Ｐｂ、Ｓｎ、Ｔａ、Ｔｉ、Ｖ、Ｙ、Ｚｎ和Ｚｒ的测定范围５μｇ／ｇ－８００μｇ／ｇ，回收率为９４％－１０５％，ＲＳＤ（ｎ＝８）０．４％－１．２％。     

辉光放电质谱法测定纯锡中24种杂质元素和锡记忆效应的消除

采用辉光放电质谱法(GDMS)测定了纯锡中24种杂质元素,分析方法为无标定量分析。分析前纯锡样品须依次用乙醇、水及乙醇冲洗以除去表面的灰尘颗粒,凉干后用于分析。本工作对辉光放电过程中的三项关键因素,即辉光放电电压、放电电流及放电气流三者在辉光放电溅射/电离时的相互关系及其对总离子流强度的影响进行了试验和讨论,并确定了仪器在最佳状态时辉光放电的优化条件为:放电电压590V,放电电流30mA,放电气流450mL·min~(-1)。为排除各元素测定中质谱(MS)干扰的影响,选择了在不同的分辨模式(中/高)下用相对丰度较高、干扰较少的质量数进行分析。所测定元素测定结果的相对标准偏差(n=5)均小于15%。各元素的检出限(3s)为0.003～0.174μg·g~(-1)之间。本方法所得测定结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)或电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的测定结果基本一致。经试验,通过更换GDMS的阳极帽、导流管、采样锥和透镜等4种耗材,可完全消除锡的记忆效应。     

磷酸三丁酯色层分离-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定U_3Si_2中22个微量杂质元素

本法对U_3Si_2中22个微量杂质元素的测定,进行了较系统的实验研究.取样100mg时,Al、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hf、In、Mg、Mn、Mo、Nb、Ni、Pb、Sn、Ta、Ti、V、Y Zn和 Zr的测定范围5μg/g~800μg/g,回收率为94%~105%,RSD(n=8)为0.4%~1.2%.     

ICP-AES法直接测定金属钕、氧化钕中的稀土和非稀土杂质元素

建立了金属钕和氧化钕中24个杂质元素的高频感耦等离子体原子发射光谱直接测定的方法。配制了3组可混听多元素标准溶液，采用基体匹配法和多组分光谱拟合（MSF）技术以消除基体光谱干扰。测定元素的回收率为96．8％－104．0％，精密度为0．92（Ti)%-6.9(Ca)%.     

高k介质SOI LDMOS RTS噪声测试新方法

提出了一种基于智能温控的RTS噪声测试与分析新方法。该方法利用高k栅介质SOI LDMOS边界陷阱特性,首先建立了含有俘获时间常数、发射时间常数以及噪声幅度等参数的RTS噪声模型;然后设计了RTS噪声智能温控测试系统;最后对实测RTS噪声数据进行频谱变换,得到噪声功率谱密度并作分析。实验表明,该测试系统可以有效地获取高k栅介质SOI LDMOS的RTS噪声,具有良好的动态特性,且其本底噪声抑制率较高,较待测信号低两个数量级左右。     

色谱分离ICP-AES法测定高纯度八氧化三铀中的13种微量杂质

采用磷酸三丁酯（TBP）萃淋树脂色层分离铀，用电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定分离后的离纯度铀氧化物的杂质元素Al、Ca、Cr、Cu、Fu、Mn、Mo、Ni、P、Ti、V、Zn、Zr，除Al、Fe、Mo外的其余10种元素的测定结果符合标准物质定值的要求。