声光相关器在雷达信号处理中的应用

本文从实验角度研究了声光相关器用于雷达信号处理的实际效果。对于厘米波段(3GHz)单载频矩形脉冲雷达信号和无调制随机杂波干扰,测定了不同脉宽、不同信噪比时相关峰的高度以及不同脉宽时相关增益的大小。当脉宽为2.5μs时,相关增益为30dB;当脉宽为0.5μs时,相关增益为23dB。从声光相关器输出的相关峰,都在几十毫伏以上。不需经任何放大,即可用示波器直接进行监测。     

COSmθ磁探圈的研制及其在HT-6上的应用

一、引言 观测托卡马克装置中等离子体引起的极向磁场扰动,通常把测得的磁扰动信号用电子学线路进行模拟量处理或计算机系统作数字量处理,如相关分析,空间付利叶分析等,以辨别各种扰动模式及其随时间的演化。用这些方法监测放电准稳阶段的磁流体扰动,已属常     

环境规制下民间投资对省域经济高质量发展的空间溢出和门槛效应研究

中国及地区的经济高质量发展离不开民间投资的推动,而民间投资受环境规制促进经济发展的政策难免会存在非线性溢出效应.文章研究基于2000-2019年中国大陆30个地区的面板数据,以新发展理念构建省域经济高质量发展指标,进一步运用空间计量模型和面板门槛模型实证检验民间投资对中国经济高质量发展的影响.研究发现,民间投资对省域经济高质量发展存在显著的正向空间溢出效应;进一步发现命令型环境规制和公众参与型环境规制均存在单门槛效应,而市场型环境规制为双门槛效应.命令型环境规制超过阈值时民间投资对经济高质量发展的促进作用更强;公众参与型环境规制超过阈值时促进作用则会降低.市场型环境规制在不同的阈值范围内,其正向促进效应呈现先升后降的倒U型.     

Gamma算子在Orlicz空间L*_Φ(0,∞)中加Jacobi权同时逼近的强逆不等式

讨论由Young函数生成的Orlicz空间L*_Φ(0,∞)的性质,并给出Orlicz空间L*_Φ(0,∞)具有Hardy-Littlewood性质的充要条件,然后借助加Jacobi权修正的K-泛函和加Jacobi权连续模及其等价性建立Gamma算子在Orlicz空间L*_Φ(0,∞)中加权同时逼近的两种强逆不等式.     

电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定矿石中钨、钼的不确定度评定

对用ICP-AES测定矿石中钨、钼元素的不确定度进行评估,根据结果计算公式绘制不确定度来源因果分析图,分析主要不确定度来源,包括:样品称量、标准溶液的配制,仪器测量过程重复性等引入的不确定度,评估了钨含量和钼含量的标准不确定度和扩展不确定度.     

荧光增白剂CXT紫外吸收测量不确定度的评估

对荧光增白剂CXT紫外吸收测量不确定度进行了评估,分析了整个检测过程中不确定度的来源,测量结果的不确定度由重复性测量、仪器的校准及仪器显示读数的分辨力等所引入的不确定度分量组成.评估结果表明,重复性测量是影响该方法不确定度的主要因素.     

星对星激光雷达反射层析成像技术探讨

以星对星激光雷达成像为应用背景,提出了一种基于啁啾脉冲信号的反射层析成像处理方法,该方法通过激光雷达多角度回波非相干累积实现高分辨率的图像重构;分析了星对星反射层析成像的实现条件,包括成像分辨率、工作模式及成像时间.研究结果表明,采用本文所提出的成像方法,通过同轨道面的伴星探测方式可以满足激光雷达反射层析成像多角度探测的要求,在观测角度范围大于60°时能够得到0.1 m目标分辨率,角度范围越大,分辨率越高,且成像时间与卫星轨道半径和两星距离有关.实验验证了该方法的有效性和星对星反射层析成像的可行性.     

光学材料光学不均匀性绝对测量误差分析

绝对测量技术去除了干涉仪参考面面形误差,可实现光学材料光学不均匀性的高精度测量。对现有主要光学材料光学不均匀性绝对检测技术进行了总结比较,针对像素错位、干涉图分辨率、干涉仪测量重复性、样品厚度以及折射率测量等因素对光学不均匀性绝对检测的影响进行了实验分析。实验结果表明:干涉仪重复性是光学不均匀性测量的主要误差。样品翻转测量法、样品直接透射测量法、平行平板样品测量法3种测量方法均可实现光学不均匀性（RMS）10-8检测精度。     

α—碘酸锂晶体的空间生长

文章报道了三次α－碘酸锂晶体空间生长实验．该实验是在我国返回式科学技术探测卫星上完成的．为研究空间微重力环境对于晶体生长和物性的影响，应用Ｘ射线衍射、Ｘ射线形貌、Ｘ射线荧光分析、光学透过率和介电测量等技术，对在微重力和常重力条件下生长的晶体结构、完整性、杂质分布以及介电常数等参数进行了研究．研究结果表明：微重力条件下，晶体中β－碘酸锂的含量比地面低；微重力对α－碘酸锂的晶体形态和结构没有影响；微重力条件下生长的晶体的完美性优于地面晶体；微重力环境使碘酸锂晶体的介电常数增高     

凝视热成像系统MTF斜缝法测试技术研究

凝视热成像系统MTF测试不同于扫描系统，必须有解决其空间采样的混淆特性。在传统的线扩展函数法基础上发展起来的方法主要有：缝扫描法、最值法、斜斜法。实际使用中，前两种方法需要精确的定位技术，而斜缝法的数据处理较复杂。本文主要论述斜缝测试法，分析其工作原理，介绍其数据处理技术。