低温液氮贮箱静置增压及放气特性分析

由于外部漏热的影响,静置时低温贮箱内的气枕压力会逐渐升高,压力升高相应地会改变贮箱内气相空间的温度分布。文中对低温液氮贮箱进行了静置增压过程实验,结果表明:增压所耗时间随气枕压力升高而增大,气相空间垂直方向各温度在实验压力范围内也相应升高;低温贮箱在不同的气枕压力下进行了放气过程实验,并对泄压过程中气体流量随气枕压力的变化进行了分析。     

天鹅绒阴极脉冲放气及重复频率运行真空特性

为获得天鹅绒阴极加电运行时的放气信息,在加速器Torch-02(电压约300 kV、脉宽约6 ns、电阻约100Ω、频率1~300 Hz)上开展了单次及重复频率下的真空兼容性实验研究。对于发射面积为28 cm2、阴阳极间距50 mm、有效抽速62 L/s、容积为4.6 L的真空二极管-天鹅绒阴极系统,根据不同电流发射密度时的气压历史曲线,确定了单位面积上天鹅绒表面中性气体释放数目与脉冲能量的关系。通过实时记录不同频率下的气压演化,在本底气压约5×10-3Pa、单脉冲能量约6 J条件下,得到了平衡压强与重复频率的变化关系:10~100 Hz时,平衡压强与重复频率近似呈线性递增;超过100 Hz时,真空恶化明显,气压随频率呈超线性增长,300 Hz时平衡压强已升至Pa量级。最后,针对重复频率运行时的放气特点,讨论了一种"分布式"抽气思想以改善系统有效抽速。     

放气槽布局形式及开槽角度对二元高超声速进气道性能的影响

通过对典型二元高超声速进气道进行数值仿真,研究了放气槽的布局形式以及放气槽的开槽角度θ对进气道总体性能的影响规律。研究结果表明:在放气总有效流通面积不变的前提下,多个放气槽的布局形式能够以更少的流量损失换取总压恢复系数的显著提升,且槽的数量越多,单个槽的有效流通面积越小,σ提升得越多,但当单个槽的有效流通面积d小于0.4H_th（按喉道高度无量纲化）时,这种变化趋势趋于平缓。当开槽角θ介于30°~120°时,放气量流量比随角度的增加而降低;当120°≤θ≤150°时,放气流量比随θ的增加而增加;30°≤θ≤150°时,喉道总压恢复系数σ随θ的增加而降低,而喉道压比Π随θ的增加而单调增加。因此采用多个0.2H_th~0.4H_th有效流通面积的放气槽为较理想的放气布局形式,而开槽角度可根据实际需要来选取。      

金属材料真空性能的鉴别

鉴别电真空用金属材料真空性能的好坏,对电真空器件的生产有直接帮助。通过分析金属高温出气的属性,研讨了一种比较实用的鉴别方法,提出了用材料的“本征放气量”和其对应的出气曲线作为衡量材料真空性能的标准,可以较全面地鉴别出材料的真空性能。     

HL-2A装置第一壁石墨组件研究

HL-2A装置的第一壁由石墨构件、Cu偏滤器靶板和AISI 304LN不锈钢真空室内壁组成。石墨构件总重量为44kg,覆盏面积为2．80,覆盖率为2．2％。由于HL-2A装置所用石墨件材料均为历经长期托卡马克实验和长期暴露大气的石墨材料,因此石墨构件的处理效果显得更为重要。介绍了EK98、SMF-800石墨材料、ASDEX装置用CFC、国产CFC的研究结果和HL-2A装置第一壁石墨材料预处理及其结果。     

活性碳与分子筛在特定环境下的吸附脱附特性

概述了活性碳的特点、吸附原理和发展简史,其中包括在低压、中低温下,活性碳纤维对材料放出的气体和脱落微粒的吸附特性以及在不同的温度烘烤之下的脱附性质。吸附剂在航天红外光学器件上的运用,对卫星传感系统起一定程度的防污作用。     

磁绝缘线振荡器重复频率运行真空系统优化

为改善一种L波段磁绝缘线振荡器（MILO）重复频率运行时的真空环境,建立了器件在分子流下的抽气模型,采用Monte-Carlo方法对阴极脉冲放气后的瞬态抽气过程进行了模拟计算,获得了不同时刻气体分子在MILO内部的3维分布情况,并据此提出了一种分布式抽气方案,即在MILO靠近气源的微波传输区增加一抽气单元,以缩短脉冲间隔内的抽气时间。在Torch-01调制器上开展了MILO分布式抽气的实验验证,结果显示,分布式抽气时的气压下降特征时间为单泵的0.22倍,与模拟结果基本一致;初步的重复频率测试也表明分布式抽气能够缩短脉冲串间隔内的抽气时间以保持器件运行时的真空水平。在所给实验条件下,从真空的角度,分布式抽气能够使MILO有效运行的重复频率数提升至单泵抽气时的5倍。     

声表面波器件用粘片胶的试验研究

针对目前声表面波器件用粘接剂固化时间长、小尺寸(面积小于10mm2),芯片剪切强度低的问题,测试分析了988粘片胶热稳定性、材料放气和胶成分;研究了在不同的固化工艺条件下,988胶粘片胶对声表面波器件的小尺寸芯片剪切强度和声表面波滤波器带外抑制的影响。测试和研究结果表明,采用988粘片胶能够缩短固化周期,满足国军标规定的芯片剪切强度的要求,同时能使滤波器性能得到提升。     

微光像增强器管壳内部真空度恶化分析研究

微光像增强器是重要的光电器件,本文研究该器件在制作过程中出现的部分像管工作寿命低的原因,根据潘宁放电原理,结合气体在材料中的扩散理论和气体在极其微小漏孔中的流动理论,对密封像管管壳内部真空度变化进行了检测和分析,提出引起管壳内部真空度下降的主要原因是像管管壳封接端面存在的缺陷.这对制备长寿命微光像增强器有很高的应用价值.