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11.
半球谐振陀螺是一种高精度长寿命的陀螺仪,具有小型化和轻量化的特点,最长具备连续工作15年的能力。随着半球陀螺的长时间工作,受材料放气和焊缝漏率的影响,真空度的下降对陀螺谐振子的精度影响逐渐增大,又因陀螺轻量化的要求,需要精确计算寿命期间的出气总量,以严格控制吸气剂的用量。该文分析了陀螺在工作过程中的出气类型,从材料放气、焊缝漏率、氢气渗透3个维度建立数学模型,得出工作过程中的出气总量,并建立陀螺流体模型,给出吸气剂的用量和初始工作条件。研究结果表明,对于吸气量大于4.12 Pa·L的半球陀螺,选用St172型吸气剂450 mg,可以满足长寿命工作的要求。本研究为半球谐振陀螺的长寿命真空保持提供理论。  相似文献   
12.
HL-2A托卡马克装置真空系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了HL 2A装置真空系统研制。它由真空主抽气系统、抽气偏滤器、直流辉光放电清洗系统组成。主抽气系统提供了装置真空室从大气到高真空、烘烤除气、直流辉光放电清洗所需要的抽气能力。抽气偏滤器初步实现了托卡马克放电过程中边缘粒子的抽运与控制;直流辉光放电清洗系统保证了装置良好的真空器壁条件。介绍了这些系统的初步运行情况,并给出了其测试结果。HL 2A装置首轮物理实验运行时真空室极限真空度达到4.6×10-6Pa,12h总漏放气率为1.8×10-5Pa·m3·s-1。  相似文献   
13.
采用系统仿真软件AMESim,通过构建冷氦气瓶放气过程中的内、外侧换热模型及气瓶金属壁径向导热模型,数值研究了冷氦气瓶放气过程中的压力、温度特性,并采用冷氦增压系统的低温试验数据开展了仿真模型的有效性验证,得到了以下结论:所提出的计算模型相比绝热放气模型更能反映实际的放气过程,尤其对于放气过程的末期,绝热放气模型的气瓶内介质温度已远远偏离真实过程,而当前模型则很好的与试验数据相一致。  相似文献   
14.
绝热材料放气是造成低温容器真空夹层真空失效、绝热性能恶化的主要原因。利用自建的材料放气速率实验装置,对绝热材料的放气特性、残余气体成分及影响因素进行了实验研究。实验结果表明:绝热材料的放气特性曲线符合非金属材料扩散放气模型,残余气体成分包括H2O、N2、O2及CO2,且主要成分为H2O;真空夹层内的真空度越高,材料的放气速率越大;材料表面粗糙度越大,其放气速率越大;氮气置换空气的抽真空工艺亦可引起绝热材料的放气速率大幅度提升。  相似文献   
15.
低温储罐抽真空工艺试验研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
文中研究了低温储罐的两种抽真空工艺,并比较了它们的抽真空时间、日漏放气率、冷态真空度以及日蒸发率等。试验结果表明,CO2置换抽真空工艺可以有效的降低储罐日漏放气率、提高储罐冷态真空度以及降低储罐的日蒸发率。  相似文献   
16.
王日品  吕彦奎  罗玲  朱为兴  荀涛 《强激光与粒子束》2018,30(7):073004-1-073004-5
针对磁绝缘线高功率微波振荡器(MILO)的静态保真空和重频运行,设计了一种真空度在线测量系统及其组件,优化了常规的测量方法,实现了真空度的实时监测和数据采集。基于30 GW高功率脉冲平台,以硬管化MILO微波源为负载,开展了加电运行条件下微波源内真空度的实时在线测量。实验结果表明:研制的真空在线测量组件具有较强的抗电磁干扰能力,能够准确获得高功率微波源运行过程中的本底真空度及脉冲放气特性。  相似文献   
17.
二代微通道板(MCP)放气成分质谱分析   总被引:3,自引:2,他引:1  
模拟二代微光管制管工艺,对MCP经不同工艺处理后的放气成份进行分析,发现工艺质量本质是造成MCP污染的主要因表。经改进工艺,提高了制管成品率和管子性能。  相似文献   
18.
陶瓷材料放气特性分析   总被引:2,自引:1,他引:1  
利用自行研制的材料真空放气性能测试设备,对4种不同陶瓷材料样品在真空环境下的放气特性进行了测试,并对照各样品材料表明及断面扫描电镜的照片,进一步阐明了它们在高温条件下产生不同放气量的原因。  相似文献   
19.
红外微型杜瓦真空退化特性研究综述   总被引:1,自引:0,他引:1  
张亚平  刘湘云 《红外》2013,34(2):10-15
分析了导致真空失效的漏放气因素。通过超高灵敏度检漏技术,可以严格控制漏气对真空寿命的影响。用功率形式的放气模型 q(t)=q0(t/t0)-α描述了杜瓦真空夹层的放气率退化特性。用温度加速了杜瓦真空夹层内的真空退化进程。用阿列尼斯模型 q=q0exp(-E/RT)描述了温度对材料放气率的影响。根据理论分析和放气率实验,可确定出加速因子。  相似文献   
20.
电子轰击有源像素传感器(electron bombarded active pixel sensor,EBAPS)作为真空-固体混合型微光器件,其性能和工作寿命一定程度上取决于器件内部真空度保持情况。分析造成EBAPS器件真空度下降的原因,推断出真空度恶化的严重后果,提出提高和保持EBAPS器件内部真空度的手段,通过搭建超高真空除气系统对EBAPS器件中核心部件电子敏感CMOS部件的放气特性进行了研究,并根据研究结果得到最佳的除气工艺参数,为EBAPS数字化微光器件的制备提供了技术基础。  相似文献   
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