FAE爆炸抛撒后云雾液滴尺寸的测量

用光学方法测量悬浮于气相或液相介质中的微小颗粒特性已被广泛地采用。R．A．Dobbins于1963年用简单的方法来单独测定喷雾颗粒平均直径。20世纪70年代采用激光器和自动数据处理系统。液体轴对称抛撒是非定常过程，即在固定位置观察到的液体颗粒尺寸随时间的变化而变化。光线通过含有微粒的介质时会发生光的散射现象，Dobbins根据颗粒散射原理，把满足上限分布函数(ULDF）且直径为几十到几百微米的颗粒散射作为衍射散射处理。     

海洋激光雷达测量海中悬移质

研制了一套采用倍频YAG激光器的小型海洋激光雷达，用于测量海中悬移质浓度，2000年8月28日至9月5日，该系统安装于“东方红Ⅱ”号右舷下甲板，在渤海海区进行海中悬移质浓度现场测量，通过对18个站位的海洋激光雷达数据分析，获得的表层悬移质浓度与同步测量的海中悬移质浓度结果吻合较好。     

利用弧形光栅尺测量大型转轴扭矩的原理研究

利用弧形光栅尺的旋转微位移测量功能,组建一组测量体系,用于测量巨型转轴的扭矩。采用四组相同的弧形光栅尺同时测量两截面的相对转角,通过多点测量实现误差均化,得出了消除转轴直径对测量影响的公式,使仪器的环境适应能力得到了极大地提高。根据不同的工作情况,提出了相应的动态测量扭矩的计算方程。实现了大型机械设备主传动的动力监测,为设备自动化、智能化奠定了基础。     

测试测量

NetTek无线RF场测试仪新增加HSDPA测试功能，安捷伦N2X多业务测试解决方案。     

Dubrovin赋值斜群环

本文中对一个斜群环为Dubrovin赋值环给出了一系列等价刻画,并且刻画了一个Dubrovin赋值斜群环的所有素理想.     

多自由度测试技术的发展

介绍目前较常用的多种多自由度测试技术，给出每种测试技术的测试原理和应用场合，比较各种技术的优缺点和适用范围，讨论该技术发展的方向。     

Emittance Measurements for Beams Extracted from LECR3 Ion Source

High quality ion beams are required by IMP cyclotron and atomic physics research, so it is important to research and measure beam emitt ance of ECR ion source. Intense beams extracted from ECR ion source usually have low energy, so it is suitable to use Electric-Sweep Scanner to measure the emittance. This kind of measurement is popularly used at ECR ion source, and it has some prominent merits such as high accuracy, very short time of data processing and easy expressing of the emittance pattern. So we designed and built this emittance scanner to measure emittance of the ion beams produced by LECR3 ion source. The structure of the ESS is shown in Fig.l, and the photo of the ESS is shown in Fig.2.     

LabVIEW嵌入式技术：嵌入式设计需求的迁移

很多因素导致设计的复杂性增加，而且这种增长趋势还在继续。10年前，一个嵌入式系统平均只有100000行代码。到2001年，这个数字超过了100万，到今天，甚至远远超过500万。由于硅芯片变得越来越经济高效，开发人员正在转向32位微处理器单元（MPU）。市场研究公司Venture Development Corporation（VDC）的一项调查显示，在今后两年将有61％的被调查者采用32位MPU，因为硬件成本不再是决定性的因素。此外，嵌入式设计的需求在很多不同的应用领域都在增长。例如，多媒体正在促进更多面向数字信号处理系统的应用；汽车通信系统需要高性能的处理能力；工业机器和传感器需要嵌入式控制，这些需求使工程师和科学家，或领域专家，或非典型DSP开发人员，寻求不同的方法来对嵌入式系统编程。随着这些不断增长的复杂性，传统的嵌入式系统的开发方法已经不能满足需求。例如，基于文本的面向对象的设计工具不能提供有效的建模方法，尤其是在有时间和并行性要求的时候。     

Cirrus Logic扩展工业市场高精度运算放大器产品系列

Cirrus Logic公司推出CS300X系列高精度集成电路，扩展了其低成本高精度运算放大器产品系列，新产品解决了科学和工业测量应用领域中放大低电平模拟信号的难题。