两种扩束透镜光纤的研制与模场分析

介绍了两种对光纤端面进行修饰以扩大模场直径（MFD）的方法（加热扩散法和熔接透镜光纤法）。利用刀片远场扫描法对单模光纤（SMF）、加热扩芯光纤（TECF）与熔接透镜光纤（GIF）这两种修饰后的高斯分布光纤进行了测量比较。验证了其模场直径分别为10．700μm,13．129μm和12．7l7μm。并针对实际问题作出修正，通过对单模光纤以及上述两种扩束透镜光纤的分析，得到了相当合理的结果。说明这两种端面修饰法确实能起到扩大模场直径同时又不破坏模式分布的作用。并且验证了修正后的刀片法用于测量修饰后的光纤的各参量是非常有利的。     

光荣榜

亚信获“最具价值的IT服务品牌”称号，神州数码获“最具价值IT服务品牌企业”称号，启明星辰入侵检测和漏洞扫描产品双双荣获“用户推荐产品奖”，Broadcom成为成长最快的企业级IP电话芯片供应商。     

多功能外围芯片CH451及其应用

CH451是一个整合了数码管显示驱动和键盘扫描控制以及μP监控的多功能外围芯片。用CH451扩展键盘显示接口,具有接口简单、占用CPU资源少、外围器件简单、性价比高等优点,可在各种单片机系统中得到广泛的应用。功能说明CH451内置RC振荡电路,可以直接动态驱动8位数码管或者64位LE     

音圈电机快速控制反射镜研究现状

快反镜通过精确控制反射镜偏转方向从而精确控制光束偏转角度,由于其具有响应速度快、工作带宽高、指向精度高等优点,被广泛应用于激光武器、精密跟踪、自由空间光通信等领域,实现精密跟踪、稳瞄、稳像、扫描和像移补偿等功能。介绍了国内外公司和研究机构研制的音圈电机快反镜的现状,分析了音圈电机快反镜的组成,对反射镜、驱动器、转角测量模块、柔性支撑等组件的方案选型进行了讨论。介绍了所研制的音圈电机快反镜的性能。最后,讨论了音圈电机快反镜大口径、高工作带宽、大转角范围和高指向精度的未来发展方向。     

我们的未来是否是4K的天下? 关于4K,从传感器到软件,我们最需要去了解什么?

关于4K随着4K数字影院的推出,4K图像成为了行业流行语。4K的概念源于35mm胶片电影,以4K分辨率数字扫描电影帧被认为是全分辨率扫描,以2K分辨率数字扫描电影帧被认为是半分辨率扫描。实际上,4K这个专业术语仅指帧尺寸,尽管它常常被不正确使用——被用来表现视觉分辨率或感知清晰度。4K的尺寸并不是单一的,使用场合以及宽高比决定     

碳纳米管的大面积合成及磁性(英文)

通过溶胶凝胶法和氢气还原法制备出Co纳米颗粒并以此作为催化剂材料,通过催化裂解苯的方法,实现了较低温度(460℃)下在Co纳米颗粒表面上合成碳纳米管。采用X射线衍射、激光喇曼光谱、场发射扫描电镜、透射电子显微镜和振动样品磁强计对所合成的碳纳米材料进行了表征。通过优化实验参数,可制备出最大产率和纯度分别为约50和98.02%(质量分数)的碳纳米管。由于铁磁性Co纳米颗粒的进入,使得整个复合物表现出比较好的磁性能。和以往以苯作为碳源合成碳纳米材料相比,此合成方案简单、成本低,且对环境无任何危害,非常适用于磁性碳纳米复合物的批量合成。     

JTAG测试技术在模块级测试中的应用

目前,随着板级器件密度的不断增大,尤其是表贴器件、BGA器件的大量使用,传统的测试方法,如使用万用表、示波器等已不能够覆盖足够的测试面积,这为模块测试带来了挑战。而随着支持IEEE1149.1标准的器件在模块中广泛的应用,很好的解决了这一问题。文章从JTAG边界扫描技术的原理出发,探讨如何将该技术应用到模块级测试中,为模块测试诊断带来便利。     

有限电扫描相控阵天线仿真数学模型

对有限电扫描相控阵雷达的相控阵天线在精跟踪目标过程中的重要地位和作用进行了简述,着重对有限电扫描相控阵雷达的相控阵天线仿真数学模型进行了初步的研究和探讨,给出了平面相控阵天线方向图、天线加权等仿真数学模型,以及雷达直角坐标系到阵面直角坐标系的转换公式,仿真结果表明这种数学模型是可行的。     

一种空间扫描式的通信干扰方案及其性能分析

通信对抗中，对战术超短波通信电台大范围的干扰并非必要，通信干扰方即使采用定向天线实施干扰，仍然存在干扰功率的空间浪费或者通信区域超过有效干扰区域边界的问题。为了更加有效地破坏敌方的通信，本文提出了一种采用自适应天线的空间扫描式的干扰方案。初步的性能分析表明，扫描干扰方案不仅能够使得干扰功率更加集中于待干扰目标通信区域，而且能够取得比一般的不扫描干扰时更好的干扰效果。但受数字通信误码率的限制，扫描干扰波束个数有较大限制。     

基于电路分割的低功耗扫描测试

本文基于电路分割的思想提出了一种低功耗扫描测试方法。该思想主要是将原始电路分成不同的几部分，每个部分能够单独进行扫描测试，通过减少同时被测的扫描寄存器的数量来达到降低测试功耗的目的。实验证明该方法使得扫描测试中的峰值功耗降低了60％，并且通过在电路中加入适当的wrapper结构，有效地解决了由于电路分割造成的故障覆盖率损失。