泰克公司增强光调制分析解决方案

2012年5月8日，泰克公司宣布，其OM4000系列光调制分析仪现在可驱动DSA8300数字采样示波器来对PM—QPSK、QAM和其他复杂调制信号进行分析，具有比基于实时的解决方案更高的垂直分辨率、更低的总系统成本。     

脉冲电压下的自击穿水介质开关击穿特性和电路参数实验研究

 介绍了“强光一号”加速器中两种结构的自击穿水开关,建立了简化的开关电路模型,并通过估算和Pspice模拟确定了开关的电路参数,包括电极间杂散电容、火花通道电感和火花电阻。研究表明开关导通过程中的流注电容效应可以忽略,放电通道火花电感与电阻选取流注导通时刻的值,且在主放电电流传递过程中保持不变。根据实验结果,阐述了两种开关击穿的不同特点：对于局部电场增强型的球-板电极结构的主开关,可以采用J. C. Martin稍不均匀场水击穿经验公式估算临界场强;而棒-板电极结构的多针开关,适合用J. C. Martin针-板击穿模型的水击穿经验公式估算临界场强,且并联工作的9个多针开关可以同时形成独立的放电通道。     

光网络中强光攻击与防护研究

针对光网络中的强光攻击问题,提出了全光网络光器件强光安全性急需研究的关键问题,给出了五种光器件防护方案.利用这些方案,可以将强光的危害局限到一个光再生段的光纤范围内.     

激光核聚变快点火新方案研究获重要进展

据上海光机所消息，中国科学院上海光机所强场激光物理国家重点实验室（原强光光学重点实验室）近年来在激光核聚变快点火新方案相关的基础物理研究方面取得系列重要进展。激光核聚变研究对解决未来能源问题具有重大意义，激光核聚变快点火新方案作为一种极其重要的聚变点火方案，在国际上受到广泛重视。     

无衍射光莫尔条纹准直、跟踪和定位系统的研制

由于无衍射光莫尔条纹技术具有高的对心分辨精度和适用于长、短距离测量的特点,在此技术的基础上研制了激光准直跟踪和定位测量系统。它具有抗强光干扰和抗机械振动的特点,并具有高的定位、定向精度（0.12μm/5m）。     

红外触控屏的接收单元抗干扰新技术及其验证

红外触摸屏通过发射接收红外光进行工作,对环境光照因素的变化比较敏感。在有外界强光照的环境中使用红外触摸屏会受到极大干扰,导致红外接收管接收到的光强发生异常,从而引起误动作。本文研究了采用高频红外光的发射与接收,以锁相放大方式滤除太阳光的干扰频段分量,实现了红外触控屏的抗直接照射的阳光干扰的方法与验证结果。此外,通过改进了锁相放大器的解调算法,去掉传统的锁相放大后级所必须的滤波电路,电路更加简洁、可靠。经硬件平台的实际验证,选频Q值可以达到145.985,并能在50 000lx的光强下正常工作。该算法能够实现很好的选频和抗强光效果,达到抗干扰目的。     

鼠标怪病

小刘乔迁新居后，鼠标生一“怪病”，每天上午定时失控，且随着时间的推移，“病情”逐渐加重，直至“我行我素”，发“病”期间，怪象丛生——站立操作可以，坐下便告失灵；单人操作罢工，红颜做伴却又正常，真乃高智能化了，午饭过后便“病愈”，次日则从头开始。     

自动亮度控制对微光电视系统强光适应性的影响

定量分析了自动亮度控制对微光电视系统强光适应性的影响。结合系统信号响应特性,建立了自动亮度控制作用后强光能量与系统成像对比度的关系模型;充分考虑系统动态范围、增益特性、灰度量化等因素,建立了自动亮度控制电路作用后系统响应特性的定量表征模型。基于上述模型,建立了引入自动亮度控制后强光作用微光系统成像的数字仿真模型,并基于模拟输出图像定量分析了不同能量强光对系统侦察性能的影响。理论分析及实验仿真结果表明:自动亮度控制的引入,能够扩大微光系统的动态范围,增强微光电视系统的适用性,但同时导致系统随着强光光亮度增大,成像灰度及对比度下降,侦察性能下降。     

强辐射对Yb∶YAG超快无机闪烁探测器灵敏度影响的实验测量

为了给强脉冲辐射场中应用超快闪烁探测器进行精密物理测试以及相关晶体抗核加固提供实验测量数据参考,针对近年新研制的Yb∶ YAG超快无机闪烁体与GD40光电管构成的快闪烁探测器,在源强近万居的强稳态辐照场中,细致测量了辐射累计伽马剂量从约1 Gy开始到最高约1 kGy全过程中Yb∶ YAG超快闪烁探测器输出电流的变化数据;在测点注量率大于1017cm-2·s-1的“强光一号”短γ脉冲辐射场中,测量了Yb∶ YAG超快闪烁探测器输出脉冲波形响应情况.实验测量结果表明:在强稳态辐射场情况下,对应累计剂量5 ～ 10Gy时,YAG(Yb)闪烁探测器灵敏度下降约5～10;(相对辐照IGy时的情况);测点累计伽马剂量约1 kGy时,Yb∶ YAG超快闪烁探测器的电流输出与约1 Gy时的比值约50;;短γ脉冲辐射情况下,测点累计注量约4×109 cm-2,Yb∶ YAG超快闪烁探测器输出电流约1A时,灵敏度下降约10;(相对累计注量约3×109 cm-2的情况),当测点注量大于1010 cm-2(累积剂量超过100 mGy),Yb∶ YAG超快闪烁探测器会出现较明显的损伤现象.     

不同辐射环境下CMOS器件总剂量测试技术与损伤差异研究

对应用在不同辐射环境下HP4156半导体参数自动化在线测试系统以及脉冲总剂量效应在线测试系统进行了详细的介绍,说明其工作原理和技术指标,并利用这两套测试系统对典型CMOS器件4007在强光一号加速器脉冲硬X射线状态、长脉冲γ射线状态以及⁶⁰Co稳态γ射线状态下开展了不同辐射环境总剂量损伤效应的比较研究, 为今后深入进行此项工作打下了基础.