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《电子技术与软件工程》2015,(16)
氮化镓薄膜在蓝宝石、碳化硅和单晶硅等衬底上的异质生长会不可避免的产生高密度的(贯穿)位错(high-density threading dislocation)。本文首先介绍常见的刃型和螺型位错及其表征手段,随之结合国际上的学术研究案例,展开讨论了位错对于氮化镓基器件(如LED和HEMT)的光学性能(非辐射复合)以及电学性能(电荷散射及陷阱能级)的影响机制。 相似文献
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范文跃 《信息安全与通信保密》2006,(8):66-68
在分析移动智能平台安全需求基础上,从逻辑原理、硬件组成、软件系统三个层面提出了移动智能平台的可信计算体系结构,之后提出了包含十种可信计算应用功能的全景图。 相似文献
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