用干涉环法分析CSTN-LCD盒厚均匀性

总结了CSTN空盒及实盒对应干涉环的一些情况,用劈尖原理推算了空盒干涉环明、暗环对应盒厚差值等,推算值与实测值基本相符;提出用实盒干涉环规整程度分析CSTN-LCD 盒厚均匀性或颜色均匀性,由此可以相应深入分析产生盒厚不匀的相关原因.     

压电陶瓷压电特性的激光调制法测量研究

介绍可测量压电陶瓷压电特性的激光干涉调制测量方法.采用相干检测原理对信号进行提取,不仅可以抑制噪声对干涉信号的影响,而且还可以大大降低光电探测器和电路的1/f噪声.与通常干涉仪测量方法相比,这种方法具有测量灵敏度高等优点.利用该方法对压电陶瓷压电特性进行了测量,讨论了激励电压信号的频率、幅度对压电陶瓷压电常数d₃₁的影响,并对其压电迟滞曲线进行了测量.     

关于杨氏干涉条纹的讨论

阐述了杨氏干涉实验中，理论上应该看到明暗相间双曲线条纹，而实际上，在实验室中看到的是明暗相间直线条纹。     

基于积分方法的二维平行剪切层声远场预测

本文采用二维Ffowcs Williams＆Hawkings(FW-H)方程对平行剪切层远声场辐射特性进行了研究。近流场时间精确数据通过计算气动声学(Computational Aeroacoustics,CAA)技术数值模拟获得,声远场信息则通过FW-H方程对近流场内的可穿透积分面进行积分获得。该方法首先采用具有解析解的涡/尾缘干涉问题进行了校核,进一步采用CAA/FW-H匹配技术对二维平行剪切层声辐射问题进行了预测,计算结果表明,积分解与计算域内的CAA数值解吻合较好。     

用Talbot效应及云纹干涉法测试镜面反射体曲率和斜率的灵敏度分析

对用Talbot效应及云纹干涉法测试镜面反射体曲率和斜率的灵敏度进行了分析,同时给出了由于光栅稀密对测试的影响和相应的解释。这对从事这项工作或工程上利用此技术测试物体曲率和斜率提供了一个可行的方案。     

高光谱大气探测仪干涉信号的获取电路设计

高光谱干涉探测仪是一种利用干涉原理来测量输入辐射的光谱强度和光谱分布的仪器,它的用途十分广泛.可用于军事伪装目标的多光谱识别、农作物生长状况检测以及航空航天大气温湿廓线的遥感等等.对高光谱大气探测仪输出的干涉信号形式进行了分析,根据其特点,详细讨论了前放的噪声匹配的问题,控制噪声在探测器噪声的背景限下.然后用滤波等方法进一步减少噪声,进行采样后获取有用信息.结合信号特征设计了整个数据采集电路.     

Self-Mixing Interference in Dual-Polarization Microchip Nd：YAG Lasers

The self-mixing interference in dual-polarization microchip Nd: YA G lasers is demonstrated. Under optical feedback, the orthogonal polarization components of the laser would undergo antiphase intensity modulations; at high feedback level, the polarization switching appears. We also observe that the laser self-mixing sensitivity changes periodically with the frequency difference of orthogonal polarizations. An initial theoretical model is put out and agrees well with the experiments. The results are useful for self-mixing sensitivity enhancement and offer a new way of absolute distance measurement.     

牛顿环实验及其历史作用

牛顿环实验是大家熟悉的一种空气薄膜产生的等厚干涉实验，尽管实验原理并不复杂，却有不少著名物理学家从不同角度对它进行过细致研究，因而在历史上发挥过重要作用．牛顿深入研究了这种实验现象，进行了精确测量，找出了环的直径分布规律；杨氏利用这一装置验证了位相跃变理论；阿喇戈由检验牛顿环的偏振状态，对微粒说理论提出了怀疑；斐索用牛顿环装置测定了纳黄双线的波长差．下面让我们看一下牛顿环实验的历史背景和作用．l最初的《顿环实验1665年胡克（RobertHooke）在他的著作中就描述了薄云母片、肥皂泡、吹制玻璃和两块压在一起…     

光纤白光干涉仪的研究

研制成功一台使用宽谱光源的“白光”干涉仪样机，用于检测保偏光纤、ＬｉＮｂＯ３波导的空间分布偏振耦合，并将该方法用于光纤去偏器的质量检测。