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美国电气和电子工程师协会(IEEE)最近(2005年11月9日)批准了Syst emVeri l og硬件描述语言的新标准。新标准是为了适应日益复杂的系统芯片(SoC)设计在原Veri l og-2001的基础上扩展的。按新标准开发的EDA工具必将大幅度地提高SoC的设计和验证效率。本文对新标准的扩展做了简要的介绍,希望引起国内IC设计界对这种功能强大语言的重视。 相似文献
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由美国电气、电子学工程师协会及美国光学学会主持召开的第二届激光及光电子学会议于1982年4月14-16日在美国亚利桑那州菲尼斯克城举行,激光及光电子学会议是由美国两个主要的激光及光电子学会议即激光工程及应用会议(CLEA)和激光及电光系统会议(CLEOS)合并而成。这个会议以后将每年交替在美国东部和西部举行。明年(1983年)5月17-19日将在东部马里兰州(Maryland)巴尔的摩城(Baltimore)举行。 相似文献
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Jonathan Harper Enrique Rodriguez 《今日电子》2007,(11):32-33
随着制造技术的发展和进步,系统设计人员必须跟上技术的发展步伐,才能为其设计挑选最合适的电子器件.MOSFET是电气系统中的基本部件,工程师需要深入了解它的关键特性及指标才能做出正确选择.本文将讨论如何根据RDS(ON)、热性能、雪崩击穿电压及开关性能指标来选择正确的MOSFET. 相似文献
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Laura Peters 《集成电路应用》2007,(5):37-40
尽管互连尺寸在不断地等比例缩小,同时也会用到更加多孔的低k材料,工程师们还是在设法满足互连的可靠性规范。VLSI电路,特别是高性能逻辑器件的不断等比例缩小,推动着对低k材料和铜互连的需求,以降低RC延迟、串扰噪声和功耗。 相似文献
78.
在前面几期的栏目中我们详细介绍了分销渠道对电子设计工程师工作的重要作用,相信广大读者已经对分销渠道有所了解,下一步许多工程师可能会产生一个疑问,分销渠道那么多我们该如何选择,分销渠道又提供哪些服务呢?本期我们将通过对几个厂商提供的服务进行介绍,告诉广大读者如何通过分销渠道获得自己所需要的帮助! 相似文献
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辐射骚扰场强测试是电磁兼容测试中最为复杂的测试.也是最常见的测试项目。因此电磁兼容测试工程师必须对该项目的测试给予充分重视。本文将以信息技术设备为例对电磁兼容的辐射骚扰场强测试进行简要的概述。 相似文献