磁光隔离器的宇航应用评估研究

磁光隔离器是光通信系统中的关键器件.为确保光通信系统宇航应用可靠性,对磁光隔离器的宇航应用评估进行了研究.在介绍磁光隔离器的工作原理、内部关键元件法拉第旋转片、装配工艺和典型光学参数的基础上,重点从磁光隔离器宇航应用评估基础验证设计方面展开磁光隔离器宇航应用评估研究.由此,进行了验证指标体系的设计、失效模式的分析、验证...     

单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究

电子元器件长期贮存过程发生的失效是由多种失效机理共同作用的结果．以器件贮存寿命整体为基础的寿命评价难度很大。选择对器件贮存寿命影响最大的单一失效机理．以失效物理为基础．通过高加速应力试验进行寿命评价研究,获得的寿命可以较准确地反映器件真实的贮存寿命。单一失效机理贮存寿命的研究是元器件贮存可靠性工作的重要内容。     

电路EMC设计与元器件的选取(四)

（上接2007年第6期91页） 1．6 快速简便的内部测试有助于有源器件的选择 尽管供应商提供了电子器件的EMC性能参数,但在实际工作环境中的EMC性能通常是无法预知的。在设计部门内部可以采取一些简便快捷的EMC测试方法对功能性电路进行测试,但电路中至少要具有时钟、完整的信号或数据输入／输出功能。有些供应商还可提供用于此类测试的评估板。     

低等级元器件在宇航型号应用的可靠性评估方法

随着航天技术的快速发展,对电子元器件的功能和性能要求也越来越高,而目前高质量等级电子元器件的研制和应用相对落后,不能满足宇航型号的使用需求。迫切需要吸纳一些功能和性能满足需求的低等级元器件,但这些低等级元器件的可靠性实验要求、辐照实验要求和工艺要求等可能存在不满足宇航型号要求的情况,或者没有可靠性的数据支撑,无法直接使用,需要对这些低等级元器件进行可靠性的评估。本文针对低等级电子元器件在某宇航型号应用的问题进行了分析,并对低等级元器件在航天应用的可靠性评估方法和试验方法做了研究和分析总结。     

电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法研究

电子元器件的封装缺陷是影响其质量的主要因素之一。目前,国内电子元器件的X射线缺陷检查主要依赖人工识别,检测效率低,元器件检测质量难以有效保证,给元器件的使用带来风险与隐患,已无法满足电子系统日益增加的考核需求。本文首次提出电子元器件X射线检查的空洞类缺陷的自动识别方法,提高了对元器件封装缺陷的检测能力、检测效率和检测结果的可靠性。研究结果表明,本文提出的自动识别方法,对于空洞类缺陷的总体识别准确率优于98%。     

用入门套件开启Arduino的精彩之旅

一直以来我就对电子制作很感兴趣,也想学点知识做出属于自己的作品,特别是在看到其他爱好者的作品之后,我的思想再一次波动,是该学点东西啦。可是从哪里入手呢？元器件、单片机还是模块电路？     

GaAs IC CAD及其在通信电路中的应用技术

介绍了自主开发的多个完整实用的 Ga As IC CAD软件 ,包括微波无源元件建模、微波有源器件测试建模、微波毫米波 IC CAD、光电集成电路 CAD、 Ga As VHSIC CAD、微波高速 MCM CAD等 ,并简要介绍了针对 Ga As工艺线的建库工作。以上软件和库已用于多个通信电路的设计。     

泰克针对高速串行测试推出多款新品

PCI-Express、RapidIO、HDMI和SATA等串行数据总线架构已经广泛应用于数字环境中,元器件间或内部传输的数据速率已达 3Gbps、6Gbps甚至12Gbps.     

热释电红外探测元器件(三) 菲涅耳透镜与外壳

~~热释电红外探测元器件(三) 菲涅耳透镜与外壳@胡伟生 @方佩敏