液晶显示器生产中的激光退火和缺陷修复

由于在大面积玻璃基底上制备由多层材料构成的高质量薄膜晶体管象元驱动阵列工艺的复杂性，使有源矩阵液晶显示器（AMLCD）的成品率低、价格高。利用激光对AMLCD进行非晶硅薄膜的退火和电路缺陷的修复，可有效的改善AMLCD的性能，提高成品率和降低成本。本文在介绍了激光对非晶硅薄膜退火和电路缺陷修复常用激光器的特性后，讨论了激光对不同类型缺陷修复的原理和过程。最后，分析比较了不同类型激光退火方法的特点。     

BGA技术与质量控制

BGA(Ball Grid Array球栅阵列封装)是一项已经进入实用化阶段的高密度组装技术。本文将就BGA器件焊点的质量控制作一介绍。BGA检测中存在的问题 目前,对以中等规模到大规模采用BGA器件进行电子组装的厂商,主要是采用电子测试的方式来筛选BGA器件的焊接缺陷。在BGA器件装配期间     

一种快速检测传声器输出端极性的装置

本文从传声器输出端极性的定义出发,探讨利用声脉冲信号,由传声器输出端极性进行简便、快速检测的一种装置。     

无催化纳米氧化锌的制备及其光学性质研究

本文采用无催化剂直接蒸发高纯Zn粉,在800℃氧气氛条件下,在Si(111)衬底上生长得到以四角状为主的纳米ZnO(T-ZnO)。T-ZnO纳米线每个角约互成110°,长度约为1.5μm,直径100nm左右;Raman分析表明E2(H)普遍存在于各形态的ZnO;光致发光光谱表明,T-ZnO纳米线的光致发光除了与材料性质有关,还与杂质缺陷有关,蓝绿光带是ZnO的缺陷产生的。     

建立网络综合实验室提高驾驭网络的能力

网络综合实验室的建立有助于检测网络的产品质量，有助于全面提高技术人员驾驭网络的能力。实验室本着“模拟网络结构、体现网络产品”的原则进行配置，已完成线路设备的安装、调试方法、HFC网络双向调试、噪声干扰及排查方法等项目的演示。随着青岛有线电视的网络发展、多功能开发、增值业务的开展，希望建立与之相适应的实验室，就广播电视设备的有关指标提出较有权威的实验报告。     

《食品安全检测实验室质量控制规范》通过验收

2005年12月21日，《食品安全检测实验室质量控制规范》在北京通过了由科技部组织的专家验收。     

厚膜混合集成电路常见工艺缺陷及其消除方法

除设计和材料外，工艺和操作对厚膜混合集成电路的质量和性能也有较大的影响。分析了厚膜混合集成电路生产过程中一些常见的工艺缺陷，如线条变形、起泡、阻值不稳、元件受损、锡珠等的产生原因，并提出了相应的消除方法。     

变位检测方式的超微型硬度计

一、前言随着近代薄膜生产技术的发展,形形色色的薄膜被广泛应用起来。然而关于薄膜自身机械性能的检测却还没有一个统一而有效的方法。目前对超低负荷压痕硬度检测不能间接反映薄膜强度,因此有必要研制新式的硬度试验装置。     

音乐手机 “掌门人”索尼爱立信W890

编辑点评从以往的模式来看,所谓的升级版本主要是在改进过去产品缺陷的基础上借助增加功能来体现出自身的特点。而这次索尼爱立信W890则似乎升级得更为彻底一些,包括按键设计,硬件提升以及系统内核的变化都相当令人惊喜。如果能够为该机的320万像素摄像头加入自动对焦功能,那么索尼爱立信W890将变得更加完美。[编者按]