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以行波半导体光放大器速度方程为基础,采用传输矩阵方法,对锥形结构半导体光放大器的增益和饱和特性进行理论研究。讨论了不同锥形长度,不同结构时的增益和饱和特性差异。理论研究表明,锥形结构能改善半导体光放大器的偏振灵敏度。在同一锥度下,长锥形长度能提高饱和增益,降低偏振度。在进行半导体光放大器有源条结构设计时要综合考虑锥度及锥形长度的影响,以实现结构优化 。 相似文献
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用恒定光电导法测量了纳米硅(其晶粒尺寸为3-5nm,晶态成分比Xc为45%—50%)薄膜在0.9—2.5eV范围的光吸收谱。分析了在不同光子能量范围可能存在的对光电导作主要贡献的几种光跃迁过程,以及随着Xc的增加,材料由非晶、微晶转变为纳米硅薄膜时光吸收谱的变化。发现纳米硅晶粒之间的界面区(平均厚度约为1nm)中载流子的跃迁及传输过程对整个范围的光吸收谱起主导作用。联系纳米硅的这种特殊结构解释了有关实验结果。
关键词: 相似文献
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相邻像素的投影和杂攻光对反射型LCDs对比度的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了相邻像素的投影和杂散光对反射型LCDs对比度的影响,结果表明,在LCDs的测量过程中,由于受邻近像素的投影和杂散光的影响。当和被测像素邻近的像素和被测像素同时选通时,可使测量到的对比度和视角特性发生不容忽视的变化;被测像素的尺寸越小,其测量对比度和视角范围受相邻像素的选通状态的影响越大。 相似文献
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引言现有的普通物理实验教材中,对RC、RL和LRC电路暂态过程的描绘,多采取用方波发生器代替直流电源,用示波器观察或用照相法摄取暂态曲线,RC电路的暂态过程,也可以用电压表和秒表逐点测量来描绘曲线。这些方法或只能观察,定量分析不便,或虽能定量分析,但实验过程复杂,效果都不理想。本文介绍用函数记录仪直接描绘RC、RL和LRC电路的暂态过程曲线,实验方法简便,而且利用图象进行定量分析和计算都很方便。 相似文献
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本文研究了火焰发射光谱法测定钾、钠等碱金属元素的各种测定条件,选择其最佳条件。通过标准样品的测定,试验了该方法的准确度、精密度、直接可测定的浓度范围、检出限以及不同燃烧器对测定的影响。试验结果表明,浓度范围在0.5-46微克/毫升时,回收率为97-102%;同一试样分别称样10次测定结果,其标准偏差为0.0049;浓度范围为0-50微克/毫升时,校准曲线呈直线,而用原子吸收方法,大约至5微克/毫升浓度时校准曲线已开始弯曲,火焰发射光谱法可节省空心阴极灯,从而使测定更简便快速。因此,火焰发射光谱测定碱金属元素比原子吸收光谱法更优越。 相似文献
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