简论可靠性管理

本文就可靠性管理的基本内容、建立健全质量保证体系的重要性作了阐述，并对开展可靠性管理提出了一些具体的意见和建议。     

分布式容错拓扑结构的可靠性分析与计算

本文应用网格图的分析方法，将双环网的可靠性问题，归结为相应的网格图的顺向链路或逆向链路的可靠度计算，应用布尔代数的概率方法，分别求出具有不同跳距Ｓ的双环网的可靠度，平均无故障时间和平稳利用率，最后，在总结点数Ｎ＝９时，对３种不同的双环网可性参数进行分析与比较，并给出最优菊花链双环网的模型。     

InAlAs／InGaAs高电子迁移率晶体管的可靠性问题

研究了热处理对亚微米晶格匹配和应变的ＩｎＡｌＡｓ／ＩｎＧａＡｓ亚微米ＨＥＭＴ的影响。发现直流特性变差。ＩＤＳＳ从２９９ｍＡ／ｍｍ减到１８２ｍＡ／ｍｍ，Ｇｍ从５１３ｍＳ／ｍｍ减至２０９ｍＳ／ｍｍ，还测量出了微波参数的降低。ｆＴ和ｆｍａｘ分别减少超过３０％和２０％，一些证据表明，由于在沟道／缓冲层界面和内部额外陷阱的存在而引起的变化是导致这种参数改变的原因。测量出的欧姆接触电阻率从０．１９Ωｍｍ增加至     

二项分布可靠度的Bayes,多层Bayes估计

本文给出了二项分布可靠度的Ｂａｙｅｓ估计、多层Ｂａｙｅｓ估计，并对一些结果进行了比较。     

用酸腐蚀法回收PTCR元件之探讨

本文阐述了用硝酸腐蚀法回收ＰＴＣＲ元件的实验机理，并得出此方法回收的元件可靠性不良的结论。     

电子设备可靠性综述

本文对产品可靠性的研究意义及其概念作一简单介绍，较详细的综述了设备可靠性的评价方法，预测，设计及确定总体方案时关于可靠性的基本考虑，重点在可靠性预计方面进行了分析探讨，指出了问题所在，并给出了解决问题的方法。     

国产半导体器件贮存10年的可靠性

电子产品的贮存可靠性正日益被人们所重视.1985年5月,美国罗姆航空发展中心颁布了一个重要文件《设备不工作期间对其可靠性的影响》.该文件提出了计算电子设备及元器件不工作期间可靠性的有关方法,其作用相当于MIL—HDBK—217《电子设备可靠性预计手册》.我国电子产品的贮存可靠性也越来越被大家所关注.近年来,电子部五所数据中心开展了我国电子设备和元器件非工作可靠性与贮存失效率有关数据的收集、研究工作,正在编制出版《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》.     

“蜂窝”移动通信可靠性初探

1 概述当今,社会经济的高度发展,商品市场随着不断扩大,社会上人们的流动就更加频繁。人们要求信息能及时流通,不但要求城市固定电话用户间能自动拨号通话,而且要求移动用户之间、移动用户与城市电话网或长途电话网的固定用户间都能自动拨号通话。实现这种功能的通信系统就是20世纪80年代迅速发展起来的移动通信系统。它是基于微电子技术、电子计算机、自动控制技