虚拟测试技术在继电器测试中的应用

文章主要介绍了以LabVIEW作为软件开发环境的虚拟测试技术 ,分别在继电器动态特性测试的应用、在数据记录与保存中的应用和在继电器寿命试验和可靠性试验中的应用。     

小功率行波管可靠性数字仿真的研究

基于对实际器件的测试数据,采用模糊数学和最可能故障法建立整个器件的可靠性模型.引入可靠性分布密度函数,将实际测试得到的离散数据拟合成随时间变化的连续函数,不仅可得到小功率行波管测试性能的评估,而且还可以对其可靠性进行预测;进一步研究,还可以给出预测的准确度概率.本文主要讨论小功率行波管可靠度评估模型的建立、数据处理与精度分析等,并对预测与准确度的概率给予简要的介绍.     

可靠性解析技术发展战略

可靠性解析问题，必须联系电子产品的今后发展情况加以研究。从这种角度观察，要求将是愈来愈高，例如，在从以往一直要求电子产品小型轻便和高功能化的基础上，又增加环境保护要求。今后也将继续看到，像现在这样，新产品层出不穷而耐用年数缩短，强烈地追求小型轻便和高功能化。     

ASIC可靠性管理探讨

本文简要阐述了可靠性管理的概念，在我所技术质量管理的基础上，从产品立项、设计、设计评审、流片、封装、考核到鉴定使用全过程，对ASIC可靠性管理进行了分析和探讨，强调各部门必须保证工作质量，强化可靠性管理，通过管理把高可靠性注入到产品中去。     

一种提高微电路外壳使用可靠性的方法

简要分析了白瓷双列直插外壳的失效模式和失效机理，并进行了模拟实验，通过对实验结果的分析，提出对成品微电路进行二次电镀能够提高其外壳的使用可靠性。     

集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制

集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制李秀华（西安微电子技术研究所７１００５４）１前言集成电路的可靠性主要取决于芯片的质量与封装技术的高低，而外壳的质量又是影响封装技术的关键。做为集成电路专业制造厂，使用白陶瓷、黑陶瓷、金属圆外壳、菱型外壳等几十个规格...