相序电路的分析与设计

相序电路用来指示三相交流电的相位顺序正确与否。本文对该矢量电路进行了详尽分析，给出了50Hz和400Hz相序电路元件参数选取的合理取值。     

IP语音和视讯业务的NAT穿越

为了解决网络安全和地址资源匮乏等问题，大量企业和驻地网采用了私有编址(RFC1918)，并通过NAT／防火墙来控制与公共网络的通信。NAT／防火墙能够完成私有编址与公网编址的相互转化，并设置相应的包过滤规则，让不满足条件的IP包不能够穿透NAT／防火墙。NAT／防火墙对HTTP等端口固定的一般应用协议，只需要转换IP、TCP、UDP头，即可很     

关于《邮电通信建设项目经济评价方法与参数》中几个问题的思考

从建设项目经济评价的观点和立场入手，说明全部投资现金流量表中税金栏目应取消，投资利润率、投资利税率、投资和效益的关系要对应；阐述国民经济的作用，以及影子价格、影子成本的计算方法。     

激光束参数测量方法研究

激光技术是近三十多年来发展起来的一门尖端科学技术，激光在国防建设，工农业生产、医学、通讯等各方面都有着极为广泛的用途。激光具有很好的单色性，相干性、方向性，并且有很高的相干强度，激光束不同于一般的射线光束，而是一种高斯光束，因而可以用高斯光束很好地描述激光的特性，在激光的许多应用中，如：激光球面干涉仪、     

Yb3+掺杂KY(WO4)2激光晶体生长、结构与光谱分析

采用顶部籽晶提拉法(TSSG)生长出Yb:KY(WO₄)₂(Yb:KYW)激光晶体.对预烧后的原料及晶体进行了XRD分析，结果表明，分别在920℃和600℃预烧8h后的熔质和助熔剂基本上形成一相，抑止了实验中的挥发问题；所生长的晶体为β-Yb:KYW，计算其晶格常数为a=1.063nm，b=1.034nm，c=0.755nm，β=130.75°.测得不同厚度样品的吸收光谱，结果表明样品在933nm和981nm有较强的吸收峰，计算出主峰981nm的吸收截面σ关键词： Yb:KYW TSSG法 晶体结构 光谱参数     

Structural and thermodynamic properties of AlB2 compound

We employ a first-principles plane wave method with the relativistic analytic pseudopotential of Hartwigsen, Goedecker and Hutter (HGH) scheme in the frame of DFT to calculate the equilibrium lattice parameters and the thermodynamic properties of AlB₂ compound with hcp structure. The obtained lattice parameters are in good agreement with the available experimental data and those calculated by others. Through the quasi-harmonic Debye model, obtained successfully are the dependences of the normalized lattice parameters a/a₀ and c/c₀ on pressure P, the normalized primitive cell volume V/V₀ on pressure P, the variation of the thermal expansion α with pressure P and temperature T, as well as the Debye temperature \Theta_D and the heat capacity C_V on pressure P and temperature T.     

一类多维指数分布的参数估计

考虑生存函数为(F)(x1,x2,…,xn)=P{X1＞x1,…,Xn＞xn}=exp{-[n∑i=1(xi/θi)1/δ]δ}(0＜xi＜∞,0＜δ≤ 1,0＜θi＜∞,i=(1,n))的一类多维指数分布,给出了它的密度函数的表示式,并讨论了它的性质.提出了相关参数δ的估计(^δ),证明了(^δ)有相合性和渐近正态性,得到了(^δ)的渐近方差σ2δ.最后还给出了若干随机模拟的结果.     

谐和与随机噪声联合作用下Van der Pol-Duffing振子的参数主共振

研究了Van der Pol-Duffing振子在谐和与随机噪声联合激励下的参数主共振响应和稳定性问题。     

提高集成电路后工序成品率的方法

本文从生产实际出发，剖析了影响集成电路后工序成品率的原因，并针对生产线工序指数能力着手，找到了解决问题的方法，使成品率有了很大的提高。     

可靠性试验样本量和截尾时间的计算

可靠性寿命试验中，一般都因受到费用和时间的限制，因此要用截尾试验获得信息，再据此对其可靠性进行统计推断，用非参数估计的方法探讨了进行可靠性试验的样本量或截尾时间的估计方法。