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131.
在一系列H模放电条件下,建立了一个旨在研究等离子体温度分布剖面不变性的数据库。介绍了数据库建立过程中要解决的关键问题和所用软件,对等离子体温度分布剖面不变性及芯部约束与边缘参数的关系进行了研究。  相似文献   
132.
HL-2A单零偏滤器的位形特征   总被引:1,自引:1,他引:0  
利用积分方法对多种电流剖面下HL2A装置单零偏滤器位形特征进行了计算研究。积分方法的优点是可以在任意电流剖面下求解具有X-点的自由边界的Grad-Shafranov方程。对HL2A装置而言,大体上可以在合理设定的分界面形状下,经几次叠代计算出各组极向场线圈(垂直场,三对多极场和多极补偿场以及水平场)中的电流。HL-2A的单零偏滤器位形基本上是圆截面加上在X-点附近的局部形变。对刮离区和偏滤器靶板区磁力线特性进行了分析以确定偏滤器的品质。  相似文献   
133.
IntroductionSincenineteencentury ,thestabilityofgas_liquidtwo_phasejethasattractedalotofpeoplefortheoreticalstudybecauseofitswideapplicationsinindustry .Thestabilitybehavioriscloselyrelatedtotheshapeofbasicvelocityprofile,andthevelocityprofilesmeasuredfromexperimentsarenotaccurateenough ,itisworthwhiletostudythevelocitymodelinthenumericalsimulation .Insimplermodels,top_hatprofile[1,2 ]issuggestedasbasicflowfortheinviscidandincompressibleliquidandgas.Tocompareitwithrealisticflow ,Suetal.[3]ass…  相似文献   
134.
多模光纤微分模时延与折射率剖面分布关系   总被引:1,自引:0,他引:1  
给出了多模光纤中微分模时延与折射率剖面分布间的简单关系 ;同时也对微分模的激励 ,给出了物理解释。  相似文献   
135.
以印刷偶极子天线为阵元,令功分网络与阵元垂直交互放置,以降低阵列剖面高度,并结合紧耦合阵列思想,优化天线参数,最终实现L频段(0.8~2 GHz)8×8低剖面宽带阵列天线的设计。单列1×8天线子阵,阵元依E面排列,阵元间距设计为100 mm,可通过1个一分八功分器合成输出。扩展为8×8规模阵列,列间距设计为84 mm,可满足全频段(0.8~2 GHz)水平面±45°范围的扫描需求。仿真结果显示,该8×8阵列在水平面±45°扫描时,最大有源驻波小于2.5,阵列法向增益大于16.2 dBi。该阵列尺寸为648 mm×800 mm×64 mm,阵列口径效率优于90%。加工制作了单列1×8天线子阵,子阵尺寸为70 mm×800 mm×64 mm。测试结果与仿真数据吻合,测试结果显示,该天线子阵在0.8~2 GHz频段内驻波小于2.5,增益优于10 dBi。  相似文献   
136.
137.
土壤颗粒在微观尺度上具有明显的异质性,表现为土壤有机质与矿物质的双层复合物结构。本研究以人工制备的复合膜样本为材料,采用红外光声光谱技术和独立成分分析对复合膜样本层进行原位剖面分析。复合膜样本由PE保鲜膜和办公胶带制备,红外光声光谱仪动静速率分别为0.16,0.32和0.64 cm/s。结果表明,通过改变光谱仪动静速率可以原位获取复合膜样本不同深度的组成信息,并估测出PE膜的厚度为5.4~7.6μm,与实际厚度(7±1)μm相接近;同时利用独立成分分析可以直接从复合膜样品的红外光声光谱中,同时分离出PE保鲜膜和胶带的光声光谱特征。红外光声光谱技术可对复合膜进行剖面分析,为进一步研究异质性土壤样本,特别是有机矿质复合体样本提供了新的分析手段。  相似文献   
138.
本文通过野外调查和人工地震反射剖面法对河南宝泉抽水蓄能电站近场区内的断裂进行了详细的研究, 结果表明近场区内的断裂活动在晚更新世以来均已停止, 断裂活动将不会影响该电站的稳定性。  相似文献   
139.
通过对地震数据进行分析,根据地震可视化研究实际需求,针对地震数据横向时间切片数据量较大,设计地震数据的索引缓存模型,研究基于多细节层次(LOD)的时间切片缓存技术,在三维地震展示和二维时间切片显示时,采用细节层次技术构建时间切片缓存,图形渲染质量随着地震切片进行放大和缩小而逐步降低,能够满足实际应用的需要。  相似文献   
140.
结构分析(CA)或破坏性物理分析(DPA)试验可以有效地评价低温共烧陶瓷(LTCC)元器件的制造工艺质量。分析试验需对LTCC器件做剖面制样,重点考察通孔剖面处的工艺质量。采用样品固定、试样磨抛和试样腐蚀3个阶段配合完成剖面制样的新试验方法,得到了比传统试验方法清晰的试样剖面,有效地暴露了试样工艺缺陷,可以作为评价LTCC工艺质量的有效试验方法进行推广应用。  相似文献   
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