接收机相位差测试系统的设计与实现

同频信号之间的相位差测试是电子测量和信号检测处理的重要内容,在许多领域有着广泛的应用。针对通用检测设备宽范围以及高精度的要求,介绍了一种基于单片集成电路AD8302的接收机相位差测试系统,采用PC104总线结构,具有体积小、结构简单、测量频率范围宽、通用性好等优点,可以用于便携式检测设备中。基于所述方案的相位差测试系统,已经在“便携式雷达性能综合测试仪”实际应用中得到了验证。     

IEC网站近期发布的标准

无线电骚扰和测试设备抗扰度方法规范第1-1部分：无线电骚扰和测试设备抗扰度一测试设备     

安捷伦在上海建成开放实验室

安捷伦科技日前宣布,已在上海投资150万美元成立安捷伦开放实验室暨测量方案中心,面向测试与测量行业的所有需求者,免费提供一系列的测试与测量服务。安捷伦开放实验室将以先进的测试与测量设备,提供一个开放的测试平台和一个专业的测试环境。安捷伦科技电子测量部亚太区总     

开放架构ATE-开启测试系统新时代

近年来IC业的迅猛发展对于ATE（Automatic Test Equipment）在整体成本，以及系统的配置性、扩展性等方面提出了新的要求。相应地，“开放架构”作为ATE的一种新的解决方案被提出来并已开始实践。本文将结合第一台真正意义上的开放架构ATE——OPENSTAR T2000，对开放架构ATE进行介绍。     

惠瑞捷半导体科技公司正式开业

全球领先的半导体测试公司——惠瑞捷11月29日正式宣布，在从安捷伦科技公司分离后，惠瑞捷在中国的机构——惠瑞捷半导体科技（上海）有限公司正式落户上海张江科技园区。惠瑞捷上海公司的正式成立，将保证惠瑞捷能够持续地为中国的半导体行业提供强大支持，     

相变存储器器件单元测试系统

通过计算机控制脉冲信号发生器和数字信号源等硬件设备,实现对硫系化合物随机存储器(C-RAM)器件性能的测试.该系统主要有电流与电压关系测试、电压与电流关系测试、电阻与所加的脉冲信号关系的测试和疲劳特性测试等模块组成.通过这些测试从而找出写脉冲信号与擦脉冲信号的高度和宽度的最佳参数、C-RAM器件的阈值电压、循环寿命等重要参数.此系统不仅为研究C-RAM器件的速度、功耗、可靠性等提供了一个途径,又为C-RAM的工艺和结构参数的研究提供了试验平台.     

中小屏幕TFT-LCD驱动芯片的输出缓冲电路

在分析中小屏幕TFT-LCD驱动芯片的负荷特性的基础上,提出了一种新型的驱动电压输出缓冲电路结构.通过负反馈动态控制输出级的工作状态,具有交替提供拉电流和灌电流的驱动能力,可有效抑制输出电压的波动.与传统的两级运算放大器电路相比,该电路结构简单,稳定性能好,降低了静态功耗并节省了芯片面积.采用0.25μm CMOS工艺设计并实现了两种不同输出电压的缓冲电路.HSPICE仿真结果表明,输出电压缓冲电路的静态电流为3μA,Offset电压小于±2mV.同时,当TFT-LCD的驱动电压在-8～ 16V之间切换时,输出电压的波动范围小于±0.4V,输出电压的恢复时间小于7μs.经对工程样片的测试知,其性能完全满足中小屏幕TFT-LCD驱动控制芯片的要求.     

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析.     

电子产品实施无铅化是一个系统工程

从六个方面内容进行了评述,并强调了电子产品实施无铅化是一个系统工程。企图从电子产品实施无铅化的提出、无铅化焊料的基本特性、无铅化焊料焊接时的特点与要求等出发,从而论述电子产品实施无铅化对电子元器(组)件、CCL基板材料、PCB基板的主要要求以及相关的测试与标准的制定等,其目的是使读者有一个较全面的了解,以利于电子产品(包含原材料、元器件、PCB、组装等)制造者、特别是相关的工程技术人员,从整体的关联或系统工程上来理解、研究和解决电子产品无铅化问题,使电子产品能顺利而迅速地从有铅化(锡-铅体系)时代过渡到无铅化(目前,最佳体系为锡-银-铜系列)时代。     

TD-SCDMA智能天线系统原理、实现及现场测试方案浅析(上)

简要介绍了智能天线原理在TD-SCDMA系统中的实现情况,并结合智能天线物理特性,TD-SCDMA智能天线相关仿真数据和几个典型现场测试用例,对TD-SCDMA系统智能天线技术的原理、实现及功能验证进行了分析.