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31.
为提高数字电路的可测性,提出了可实现任意逻辑函数的正极性或-符合网络的易测性实现,并给出了测试网络中所有单固定故障的通用测试集.该实现基于逻辑函数的正极性或-符合展开,网络的同或部分分别采用了串联和树形结构.为提高可测性,同或串的实现结构只需增加1个控制端及1个观察端,同或树的实现结构只需增加3个控制端及1个观察端.对于1个n变量的逻辑函数,两种实现结构下通用测试集的基数分别为(n+4)和(n+5).这样短的通用测试集非常适合用内建自测试实现,从而有效地缩短测试时间.  相似文献   
32.
《中国集成电路》2010,19(7):4-5
广芯电子近日量产推出一款炫彩矩阵LED灯驱动芯片BCT3286。该芯片带8段音乐均衡器检测输出,支持最多32颗RGB驱动且内置配色方案,支持LED矩阵输出。芯片内置RAM,可实现自扫描,无需外部软件实时处理,节省系统资源;内置高精度ADC,对8个频率段音频信号ADC输出;内置呼吸、游标、闪烁功能,128种时间等级可选。  相似文献   
33.
ASIC可测试性设计技术   总被引:5,自引:0,他引:5  
可测性设计技术对于提高军用ASIC的可靠性具有十分重要的意义。结合可测性设计技术的发展,详细介绍了设计高可靠军用ASIC时常用的AdHoc和结构化设计两种可测性技术的各种方法,优缺点及使用范围。其中,着重论述了扫描技术和内建自测试技术。  相似文献   
34.
以MPEG-2解码芯片为研究对象,采用基于模块划分方法进行可测性设计,包括边界扫描(JTAG)和内建自测试(BIST).根据MPEG-2系统结构的特点,把模块划分为存储器类型、信号不相关类型和信号相关类型.针对模块特性,设计不同的测试向量生成器,3种类型模块之间并行测试.测试结果表明,与未加入可测试设计的系统比较,固定故障覆盖率由81%提升到95.1%,而硬件开销仅为3%.  相似文献   
35.
IEEE 1149.1标准与边界扫描技术   总被引:13,自引:2,他引:13  
本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略。  相似文献   
36.
《新潮电子》2008,(4):57-57
身为佳能(Canon)目前最轻巧的数码摄像机之一,FS11不含电池的重量仅约260克。它采用了内置存储器与外插SDHC大容量存储卡的双重存储设计,不仅减轻了机身重量,让机身结构更加紧凑,还可轻松扩展存储空间,最长拍摄时间可达约21个小时。FS11启动也非常敏捷,凭借快速启动功能只需约1秒就能开始拍摄。此外,FS11的耗电量也大大降低,配合佳能新型智能锂离子电池,  相似文献   
37.
本文给出了一种适合于级敏扫描方法(LSSD)的伪穷尽测试集生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路,使得只需要一个初始状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点,消除了必须在ROM中存储多个初始状态的要求,从而简化了测试控制电路及测试过程。  相似文献   
38.
肖侃 《电子设计工程》2013,21(18):112-114
在研究了JEDEC制定的DDR2标准的基础上,基于对DDR2快速测试的目的,设计了一种带自测功能的新型DDR2控制器。该控制器既拥有常见的控制时序、刷新、初始化等功能,又可以在没有外部激励的情况下对DDR2进行测试。整个设计完全遵循JEDEC标准,采用自顶向下的设计方法,通过异步FIFO进行跨时钟域的信号通讯,接口部分兼容FPGA的MCB模块,可以实现和MCB的简单替代,最后用verilog语言进行描述并通过仿真验证和FPGA验证.达到了较高的性能和实现了要求的功能。与常见的控制器相比,本设计虽然增加了自测试功能,但综合后的面积只增加10%。  相似文献   
39.
莫晏光  代文化 《通信技术》2009,42(7):119-121
文中的便携式数字电视内置DVD功能,使用单芯片的SOC方案,将USB、Card Reader、游戏、MP4集成到DVD的解码芯片里,同时数字电视的解码部分也集成到DVD的解码芯片里。虽然国内的陆地开放式数字电视标准还没正式实施,但人们对内置DVD的便携式数字电视极为追捧。现在国内市场还没有这种产品上市,国外市场虽有但价格很高。文中开发的样机造型新颖小巧,携带方便,集移动数字电视和DVD于一身,是年轻人追求时尚、享受科技的新宠,极具市场潜力。  相似文献   
40.
本文提出了一种系统芯片(SoC)中用于降低内建自测试(Built-in Self-test,BIST)峰值功耗的调度算法。首先本文提出了基于扫描BIST的精简功耗模型,在此模型的基础上,提出了通过调整扫描周期和扫描起动时间的办法来避免过高的SoC测试峰值功耗。实验结果表明,该算法可以有效地避免BIST并行执行可能带来的过高峰值功耗。  相似文献   
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