聚乙炔的CH面外振动红外光谱研究

采用从头计算方法，计算了反式和顺式聚乙炔的氢原子在垂直于聚乙炔分子面方向振动的红外光谱，计算表明，Gibson等用红外吸收实验所测得的谱线的确是聚乙炔的CH面外振动产生的谱线，经100℃长时间加热后，顺式聚乙炔变为反式聚炔，但波数为740cm^-1的谱级仍保留5％的强度。     

离轴数字全息记录条件的研究

用振幅全息和菲涅耳衍射理论,分析离轴数字全息记录系统结构参数对数字全息再现的影响,并进行相应的实验验证。理论分析和实验研究结果都表明,如果记录物体和CCD的尺寸固定,记录物体和CCD之间的记录距离将直接影响数字全息再现像的分离状况和系统的分辨率,在保证再现像分离的前提下,缩短物体和CCD之间的距离将有利于数字全息再现像分辨率的提高。     

带膜微通道板的工艺和特性研究

微通道板(MCP)电子透射膜是决定Ⅲ代微光像管稳定性和可靠性的主要因素。采用有机衬底掩膜技术和冷基底溅射相结合的方法在MCP输入面制备非晶态Al2O3电子透射膜，测量了带膜MCP紫外光辐照清洗前后的电学特性。讨论在多孔MCP输入面形成连续电子透射膜与气体辉光放电的关系，工艺失败对MCP的危害性。     

Na2O2体系半经验势能面

硷二聚物与氧反应碰撞的中间络合物是M~ _2X~-离子对(M代表硷原子,X代表氧原子或氧分子)。我们导出了Na~ _2O~-和Na~ _2O~-_2体系最低能量电子态绝热势能面的解析形式。     

像增强器亮度增益和等效背景照度测试仪的研制

亮度增益和等效背景照度是衡量像增强器性能的两个重要参数，针对这两个参数的测试要求，阐述像增强器亮度增益和等效背景的测试原理和测试仪的结构设计。利用研制的测试仪对多种型号的像增强器的亮度增益和等效背景照度进行了测试，给出并分析了测试结果。结果表明，本测试仪的结构设计是合理有效的。     

面阵列封装器件的贴装技术

面阵列封装器件在电子产品中的使用率逐年上升，如何实现其高速贴装是影响生产线效率的重要因素。从不同的角度论述了面阵列封装器件实现高速贴装的手段与技术。     

128×128红外焦平面阵列时序分析与温控电路设计

介绍了微测辐射热计的 12 8× 12 8凝视型非致冷红外热像仪的系统框图 ,论述了一种新型的红外焦平面阵列温控电路设计方案以及读出电路时序的FPGA实现方法 .该方案具有高集成度、高精度、低成本、布线简单等优点 ,为热像仪系统的研制开发提供了设计思想 .     

用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨

通过对CCD探测器成像过程的模拟,分析了CCD成像在像元几何尺寸及成像灰度方面的数字离散化特征对CCD成像分辨力的影响,给出了CCD成像分辨力与CCD像元分辨力的关系,同时也给出了在相应情况下的调制度传递函数(MTF)的数值。     

基于数字化二次曝光干涉的光学元件波前畸变测量

将傅立叶变换条纹分析方法与二次曝光全息干涉计量相结合，提出了数字化二次曝光干涉术，用于测量光学元件引入的波前畸变。文中给出了理论分析，模拟与光学实验结果证实提出的方法具有高精度、快速的波前测量特点，可应用于激光系统中光学元件的波前畸变在线检测。     

Talbot长度的测量

提出了用动态叠栅条纹光电信号的调制度测量Talbot长度的方法，并阐述了实验原理，给出了实验结果．