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72.
根据长波红外焦平面器件研制的需要,在对器件串光效应和测试原理进行分析的基础上,本文首次提出用检测图形测试的方法测量红外焦平面阵列中探测器之间的串音效应。对用于检测光伏焦平面阵列光串音效应的检测图形的结构和原理,具体的测试设备和测试方法,以及由结构设计差异和检测管响应率差异可能引入的误差进行了讨论,并根据红外长波焦平面器件研制过程中的实际测试经验,给出了实用的误差消除方法。在长波HgCdTe焦平面阵列的实际研制过程中,该方法对工艺机理的分析和器件参数测试都起了重要的作用。此测试法所用测试设备与常规光电器件测试设备相同,避免了在串音测试上依赖于目前尚不成熟的红外长波小光点技术。 相似文献
73.
在惯性制导用光纤陀螺中,用保偏光纤绕制的Sagnac环圈是其中的关键器件.文章首先介绍了保偏光纤中偏振光传输的概念与定义;然后,对保偏光纤偏振特性的表征参数:拍长、偏振串音和偏振保持参数(h)进行了详细的介绍;最后,分析讨论了h参数与偏振串音的关系. 相似文献
74.
采用高倍光学显微镜和焦平面探测器测试系统对焦平面探测器相连缺陷元进行了测试分析,研究了焦平面探测器相连缺陷元的成因。研究结果表明:借助高倍光学显微镜很难识别相连缺陷元;采用焦平面探测器响应测试系统进行测试时,相连缺陷元的响应电压与正常元基本相同,相连缺陷元无法被识别;采用焦平面探测器串音测试系统进行测试时,相连缺陷元之间串音为100%,明显不同于正常元,此时两元相连缺陷元响应电压是正常元响应电压的二分之一,相连缺陷元可以被有效识别。光刻腐蚀引入的台面或电极相连,以及光刻剥离引入的铟柱相连导致了缺陷元的产生;通过光刻腐蚀、剥离工艺优化,可以有效减少焦平面探测器相连缺陷元。 相似文献
75.
该文介绍网络布线测试中近端串音的测量原理,分析了影响近端串音性能的主要原因,通过工程检测与改进的实例,说明施工中影响串音检测结果的缺陷与检测结果之间的关系,提出了提高网络布线质量的预防措施. 相似文献
76.
红外成像系统激光干扰饱和串音效应的仿真 总被引:3,自引:0,他引:3
分析了激光辐照下,红外成像系统饱和串音效应的机理,计算了投射到探测器表面的激光光斑半径及能量分布,建立了红外成像系统激光干扰的饱和串音模型,并利用系统仿真软件,模拟了激光辐照前后的系统成像效果,证明了激光干扰对红外成像系统成像质量的影响。 相似文献
77.
利用红外焦平面调制传递函数曲线计算串音值 总被引:2,自引:0,他引:2
串音使得焦平面输出信号的对比度降低,进而影响系统的调制传递函数(MTF).随着器件的发展,用MTF来评价器件越来越受到重视;从民用领域的趋势看,MTF将逐步取代传统的串音、极限分辨率等参数.这就使得现阶段搭建申音专用测量设备处于进退两难的地位.考虑到串音和MTF间的密切联系,从串音的定义和传统测量方法出发,分析了串音和... 相似文献
78.
79.
利用0. 632μm波长激光辐照可见光CCD成像传感器进行激光干扰实验。结果表明,随着激光能量密度的增强,在CCD输出图像中逐渐出现辐照光斑、竖直白线、全屏饱和等典型激光干扰现象。当像面上的激光功率密度达到9. 8×10-7W/cm2时,CCD出现光饱和串音,达到2. 8 W/cm2时,进入全屏饱和状态。通过分析CCD的结构及材料,发现在光电效应中光生载流子在极短时间内从势阱中溢出,在势垒的阻挡下,沿着竖直方向溢出速度高于水平方向,从而出现竖直白线现象。研究结果丰富了激光对CCD成像器件干扰效应的理解,为激光辐照CCD器件的干扰机理提供了理论依据。 相似文献
80.
红外探测器组件作为目标探测和成像系统的核心器件,其空间分辨能力直接影响着探测系统的成像质量。评估探测器组件空间分辨能力时,常使用调制传递函数(MTF),而探测器组件光学串音是影响探测器组件MTF的主要因素。介绍了一套弥散斑直径为30 m的红外小光点测试系统,并用于测试不同结构红外探测器组件的线扩散函数(LSF)来评价组件的光学串音。测试结果表明:叠层电极结构侧面存在的光响应会导致LSF展宽和次峰等现象,该结果为红外探测器组件光学串音设计提供了参考。 相似文献