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多畴STN—LCD的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文用光学模拟计算方法研究了多畴及无序STN-LCD的电光特性。从光学角度而言,试图制造无序STN-LCD的努力是没有意义的。无论对正性还是对负性显示模式,多畴STN单位象元的畴数量不应超过四个。具有2或4畴的STN-LCD确实能够提高视角的均匀性,特别是4畴器件可以获得非常好的视角均匀性,具有一定的研究和开发意义。 相似文献
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STN-LCD低温发泡临界温度估算 总被引:1,自引:0,他引:1
导出了STN产品低温下出现黑点的临界温度估算公式,讨论了影响临界温度的各种因素,估算了在特定条件下出现低温黑点的临界温度。 相似文献
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STN-LCD盒厚的控制方法 总被引:2,自引:0,他引:2
本文从STN-LCD的构造、材料选择、制作工艺及环境管理等方面,综合介绍了STN-LCD盒厚均匀性的有效控制方法。 相似文献
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STN-LCD残影显示的原理分析及实验研究 总被引:7,自引:6,他引:1
影像残留显示现象存在于各类LCD中,大多为离子效应所引起。针对这一问题,分析了不同配向膜对自由离子电荷的吸附情况,以及选用合适的配向膜搭配不同液晶材料、盒内自由离子电荷的浓度情况等对残影显示的影响。实验发现,选用合适的配向膜,增加重配向时间,有利于消除残影现象;在一定配向膜基础上,选用低阈值液晶或选用添加抗静电剂液晶,更容易消除残影现象。不过,在实际运用中,重配向时间的增加会影响液晶陡度;低阈值液晶会使液晶陡度变差同时使响应速度变慢,且容易出现显示不均;抗静电剂液晶也会导致显示不均。因此在实际运用中,必须平衡以上各条件,才能在不影响其他性能前提下,更有效地改善残影现象,提高STN-LCD的显示质量。 相似文献
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热压工艺对塑料衬垫料永久性形变的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
研究两种不同的STN—LCD边框科的最终厚度及其与热压工艺的关系。发现边框的最终厚度不仅决定于边框料的组分,而且受热压工艺的影响。边框厚度随热压时间的延长、热压温度的升高和热压压力的增大而减小。 相似文献
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用 Frank 的连续弹性体理论和光学“4×4”矩阵法,研究和计算了STN-LCD 的光学性质,包括光透过率与外加电压、视角、波长的关系。计算表明:(1)较大的弹性比 K_(33)/K_(11),较小的 K_(22)/K_(11),较小的介电各向异性Δε,较小的预倾角θ_0将会提高 STN-LCD 的多路寻址能力;(2)T 随视角的交化很小,说明STN-LCD 具有宽的观看范围。明显优于 TN-LCD;(3)减小光学参量Δ_n·d 和改变偏振片的放置可以消除 STN-LCD 的固有色散(OMI-LCD),但这是以牺牲多路寻址能力为代价的。 相似文献