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1.
A new method, based on zero point of longitudinal electric field, was used to determine the spatial resolution of external electro-optic (EO) probing equipment. Considering the diffraction of Gauss beam, the result of external EO probing was simulated which was in accordance with the experiment. A spatial resolution <1 μm was demonstrated initially in our equipment using 650 nm laser diode as probe beam and semi-insulating GaP as probe tip.  相似文献   
2.
用正电子湮没寿命谱技术研究了2.4×1O15/cm2、2.2×1016/cm2注量的85MeV19F离子辐照N型GaP和1.6×1016/cm 2注量的85MeV19F离子辐照P型InP所产生的辐照缺陷.结果表明:两种注量辐照在GaP中均产生较高浓度的单空位.其浓度随着辐照注量的增大而增加;辐照也在InP中产生较高浓度的单空位.  相似文献   
3.
张福甲  刘凤敏 《半导体光电》1997,18(6):375-379,425
介绍了间接跃迁的半导体AlP与GaP形成的超晶格,由于零折叠效应,实现了能带由间接带隙向直接带隙的转变,从而增加了带间的光跃迁几率,并推导了该几率的表达式。  相似文献   
4.
GaP:(N)的背景光谱和发光尖峰   总被引:1,自引:0,他引:1  
获得高分辨GaP(N)光致发光光谱,观察到等电子陷陆束缚激子发光中LO和loc多声子发射,其强度分布答合泊松分布。将声子伴带区分为直接光跃迁和间接光跃迁,并进行了相应讨论,还观察到局域声子效应--光谱相似定律和相当显著的背景光谱。  相似文献   
5.
Adsorption and decomposition of triethylindium (TEI: (C2H5)3In) on a GaP(0 0 1)-(2×1) surface have been studied by low-energy electron diffraction (LEED), Auger electron spectroscopy (AES), temperature-programmed desorption (TPD) and high-resolution electron energy loss spectroscopy (HREELS). It is found from the TPD result that ethyl radical and ethylene are evolved at about 300–400 and 450–550 K, respectively, as decomposition products of TEI on the surface. This result is quite different from that on the GaP(0 0 1)-(2×4) surface. The activation energy of desorption of ethyl radical is estimated to be about 93 kJ/mol. It is suggested that TEI is adsorbed molecularly on the surface at 100 K and that some of TEI molecules are dissociated into C2H5 to form P–C2H5 bonds at 300 K. The vibration modes related to ethyl group are decreased in intensity at about 300–400 and 450–550 K, which is consistent with the TPD result. The TEI molecules (including mono- and di-ethylindium) are not evolved from the surface. Based on the TPD and HREELS results, the decomposition mechanism of TEI on the GaP(0 0 1)-(2×1) surface is discussed and compared with that on the (2×4) surface.  相似文献   
6.
GaAs、GaP、InP、InGaAsP、AlGaAs、InAlGaAs的化学腐蚀研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
为研制全集成光开关、微片式激光器等,对GaAs、GaP、InGaAsP、InAIGaAs、AlGaAs等材料的化学腐蚀进行了实验研究。为了研制InAlGaAs/InAlAs/InAlGaAs微片式激光器,开发了H3PO4/H2O2/H2O薄层腐蚀液和HCl/H2O选择性腐蚀液;为了研制InGaAsP/InP/InGaAsPTbar型光波导,开发了HCl/H3PO4/H2O2薄层腐蚀液和HCl/H2O2选择性腐蚀液;为了研制GaP、InGaP光波导,开发了HCl/HNO3/H2O薄层腐蚀液。它们都具有稳定、重复性好、速率可控、腐蚀后表面形貌好等特点。除此之外,蚀刻成的GaP光波导侧壁平滑无波纹起伏。此种结果尚未见报导。  相似文献   
7.
We have theoretically investigated the effect of pressure on the structural stability of GaP?:?InP mixed system. The three-body-potential (TBP) model has been used. The TBP model consists of long-range as well as short-range interactions; the long-range part includes the modified Coulomb force as well as a three-body term; the short-range part in TBP defines the van der Waals and overlap repulsive interactions. We observe a pressure-induced structural phase transformation from ZnS (B3) to NaCl (B1) type phase in Ga 1?x In x P. Our calculated transition pressures for the initial GaP and final InP compound semiconductors are in good agreement with other reported data.  相似文献   
8.
9.
李阳平  刘正堂  赵海龙  李强 《光学学报》2006,26(10):589-1593
把GeC/GaP双层膜用作ZnS衬底的长波红外(8~11.5μm波段)增透保护膜系。采用射频磁控溅射法,以高纯Ar为工作气体、单晶GaP圆片为靶制备了GaP薄膜;用射频磁控反应溅射法在高纯Ar和CH4的混合气体中,以单晶Ge圆片为靶制备了GeC薄膜。分别用柯西(Cauchy)公式和乌尔巴赫(Urbach)公式表示折射率和吸收系数,对薄膜的红外透射率曲线进行最小二乘法拟合,得到了它们的厚度及折射率、吸收系数等光学常数。GaP膜的折射率与块体材料的相近,在波长10μm处约为2.9;GeC膜的折射率较小,在波长10μm处约为1.78。用所得到的薄膜折射率,通过计算机膜系自动设计软件在ZnS衬底上设计并制备出了GeC/GaP双层增透保护膜系,当GaP膜厚较大时,由于吸收增大膜系增透效果较差;当GaP膜厚较小时,膜系有较好的增透效果。  相似文献   
10.
Light pulses of 149 m wavelength and 700 ps duration are generated by non-collinear phase-matched difference frequency mixing of laser pulses at 1053.5 and 1061 nm in a (110) cut GaP crystal. The pump laser pulses are generated in a time-synchronized mode-locked double-frequency Nd:glass laser system consisting of a silicate glass branch and a phosphate glass branch. A photon conversion efficiency of 4 × 10–6 is achieved. The non-linear susceptibility constant of GaP is determined to be d 14 = (10 ± 1) pm V–1.  相似文献   
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