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文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法。 相似文献
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We present an analysis of test application time for test data compression techniques that are used for reducing test data volume and testing time in system-on-a-chip (SOC) designs. These techniques are based on data compression codes and on-chip decompression. The compression/decompression scheme decreases test data volume and the amount of data that has to be transported from the tester to the SOC. We show via analysis as well as through experiments that the proposed scheme reduces testing time and allows the use of a slower tester. Results on test application time for the ISCAS'89 circuits are obtained using an ATE testbench developed in VHDL to emulate ATE functionality. 相似文献
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Verigy 93000 SoC测试系统及测试中偏置电流的实现 总被引:1,自引:0,他引:1
陶新萱 《电子工业专用设备》2011,40(1):4-6
Verigy 93000 SoC测试系统是一个低成本、可扩展的单一测试平台,它是满足SoC全面发展需要的芯片测试系统解决方案.概括介绍了93000自动测试系统(ATE),并讨论了其偏置电流的实现方法. 相似文献
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孙佳焱 《电子工业专用设备》2011,40(3):38-42
近年来国内无线通讯市场发展迅猛,射频芯片的出货量也快速增长,射频芯片不同于其他SoC芯片,往往是市场周期短,更新速度快,这给芯片的量产测试带来挑战,ATE射频测试板作为测试的重要组件,成为制约测试开发和成本的最关键因素,ADVANTEST推出的低成本射频测试板兼顾了开发效率和测试成本的平衡性,给射频芯片的量产测试带来了... 相似文献
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介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析. 相似文献
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WKBohannon 《电子与封装》2005,5(4):23-24,4
<正>Using Planet ATE's SOC "all-in-one" pin electronics solutions it is easy to make your own tester, ATE or to modify load boards for more advanced test capabilities. 相似文献
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随着SoC应用的日益普及,对SoC测试技术提出了越来越高的要求,掌握新的测试理念、新的测试流程、方法和技术,是应对SoC应用对测试技术提出的挑战,适应测试发展趋势的必然要求。介绍了应对SoC测试技术挑战的基本方法和设备结构及几家设备公司SoC芯片测试设备概况。 相似文献